分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價(jià)：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè)●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測(cè)●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測(cè)●可對(duì)應(yīng)長(zhǎng)工作距離、且容易安裝...
光波場(chǎng)三維顯微鏡 MINUK 參考價(jià)：面議
MINUK是一種可以評(píng)估納米量級(jí)的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無(wú)損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測(cè)量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價(jià)：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價(jià)：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位● 可以測(cè)量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價(jià)：面議
ELSZ series的最zu高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價(jià)：面議
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置?！襁m用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價(jià)：面議
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300 參考價(jià)：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對(duì)齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
光電流測(cè)試 參考價(jià)：面議
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。
便攜式拉曼光譜儀 參考價(jià)：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨(dú)立的研究?jī)x器，旨在進(jìn)行光譜測(cè)量，其能力達(dá)到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無(wú)活動(dòng)部件設(shè)計(jì)，無(wú)需調(diào)整，具有...
高光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高光譜測(cè)試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng)，其原理新穎，相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。
顯微分光膜厚儀 參考價(jià)：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測(cè)量項(xiàng)目：?絕.對(duì)反射率測(cè)量?多層膜解析?光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超快pump-probe 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) TA100：該系統(tǒng)設(shè)計(jì)和飛秒激光相結(jié)合， 用于檢測(cè)樣品中的超快激發(fā)態(tài)或光生載流子電荷的動(dòng)力學(xué)過(guò)程。TA100為“ 一站式...
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測(cè)量量子效率 （QE）（也稱(chēng)為入射光子到電荷載流子效率 （IPCE）） 的預(yù)配置而靈活的解決...
太陽(yáng)光模擬器 參考價(jià)：面議
Oriel Sol3A 太陽(yáng)光模擬器采用單燈設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足全部 3A 級(jí)性能標(biāo)準(zhǔn)，而不影 響其 1 個(gè)太陽(yáng)光強(qiáng)輸出功率。按照慣例，AAA 級(jí)的第.一個(gè)字母代表光譜匹...
光電流成像 參考價(jià)：面議
光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)在器件或材料表面照射光源，并測(cè)量其產(chǎn)生的電流信號(hào)，來(lái)獲得材料或器件的空間分布信息。
探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
S-DSR探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣? 調(diào)制法測(cè)量技術(shù)，提升測(cè)量結(jié)果信噪比? 開(kāi)機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計(jì)...
光譜變溫附件/探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
光譜變溫附件/探針臺(tái)THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺(tái)。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 1...
SERS增強(qiáng)試劑 參考價(jià)：面議
波銘科儀銷(xiāo)售的多種SERS增強(qiáng)試劑、SERS芯片，均是經(jīng)過(guò)嚴(yán)格反復(fù)試驗(yàn)、驗(yàn)證、摸索制備而成，各項(xiàng)性能指標(biāo)都很優(yōu) 良，能滿(mǎn)足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分...
熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過(guò)低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散...
顯微熒光成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半 導(dǎo)體材料的發(fā)光特性...
組合熒光系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，既可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)測(cè)量，又能實(shí)現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測(cè) 量。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇（光源、探測(cè)器、樣品架、變溫模塊等）...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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