| 產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
價格區(qū)間 |
面議 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
WPA-200系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-3500nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇，退火應(yīng)力分布儀
WPA-200
退火應(yīng)力分布儀是日本 Photonic Lattice 公司研發(fā)的工業(yè)級檢測設(shè)備，專為透明塑料、光學(xué)薄膜、玻璃等材料的殘余應(yīng)力檢測設(shè)計。其核心技術(shù)突破在于將光子晶體偏光陣列與三波長同步測量系統(tǒng)結(jié)合，實現(xiàn)了納米級精度的應(yīng)力分布可視化與定量分析。退火應(yīng)力分布儀
WPA-200 基于光彈性效應(yīng)（Photoelastic Effect），即透明材料內(nèi)部的殘余應(yīng)力會導(dǎo)致光學(xué)各向異性（雙折射現(xiàn)象）。當(dāng)偏振光穿過材料時，應(yīng)力引起的光程差（相位差）與應(yīng)力大小成正比。傳統(tǒng)光彈儀依賴機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件調(diào)節(jié)偏振態(tài)，而 WPA-200 采用光子晶體偏光陣列替代機(jī)械結(jié)構(gòu)，通過電控方式實現(xiàn)偏振態(tài)的快速切換，消除了機(jī)械運(yùn)動帶來的誤差與速度限制。
創(chuàng)新的三波長同步測量系統(tǒng)（523nm 綠光、543nm 青光、575nm 黃橙光）覆蓋了不同材料的檢測需求：
523nm 綠光對 PMMA、尼龍等有機(jī)材料的應(yīng)力變化尤為敏感；
543nm 青光可有效穿透玻璃基材的表面光澤層，測量本體應(yīng)力；
575nm 黃橙光能穿透 3-5 層鍍膜，直接檢測多層復(fù)合薄膜的內(nèi)層應(yīng)力。
測量能力
相位差范圍：0-3500nm，覆蓋 PC、PMMA 等高雙折射材料的退火前后應(yīng)力變化區(qū)間；
精度指標(biāo)：σ<0.1nm（標(biāo)準(zhǔn)差），重復(fù)性 < 1.0nm，較傳統(tǒng)光彈儀提升兩個數(shù)量級；
空間分辨率：0.11μm2/ 像素，支持從宏觀（100×133mm）到微觀（3.0×4.0mm）的應(yīng)力梯度分析。
檢測效率
單次檢測時間 < 3 秒，支持連續(xù)測量模式，滿足量產(chǎn)線每小時 1200 片的檢測需求；
無機(jī)械運(yùn)動設(shè)計使平均運(yùn)行時間（MTBF）達(dá) 10,000 小時，維護(hù)成本降低 60%。
數(shù)據(jù)處理
VR/AR 鏡片：檢測因注塑不均導(dǎo)致的應(yīng)力集中，指導(dǎo)工藝優(yōu)化使應(yīng)力均勻性提升 40%。例如，Pancake 鏡片需控制雙折射 Δn<10nm，WPA-200 通過三波長交叉驗證消除材料色散干擾，確保檢測精度。
光學(xué)薄膜：575nm 波長穿透多層鍍膜，直接測量基材應(yīng)力，解決傳統(tǒng)設(shè)備 “只見鍍膜不見基材" 的難題。
石英玻璃管：通過檢測結(jié)果反饋優(yōu)化冷卻速率，使應(yīng)力均勻性提升 40%，開裂率降低 60%。某光纖企業(yè)將預(yù)制棒退火時間從 48 小時縮短至 24 小時，直徑偏差從 ±1.5μm 控制到 ±0.8μm。
塑料容器：對 PC、ABS 制品進(jìn)行退火效果驗證，定量應(yīng)力數(shù)據(jù)（MPa 級）替代傳統(tǒng)溶劑浸泡法，成為質(zhì)量驗收標(biāo)準(zhǔn)。
工藝優(yōu)化WPA-200 建立的 “溫度 - 時間 - 應(yīng)力" 關(guān)系模型，可精準(zhǔn)指導(dǎo)退火參數(shù)調(diào)整。例如，PC 材料退火時間從 30-40 分鐘（120℃）縮短至 20 分鐘，能耗成本降低 30%。
質(zhì)量控制二維應(yīng)力分布映射圖直觀顯示退火后應(yīng)力殘留狀態(tài)，幫助企業(yè)識別潛在風(fēng)險。如某晶圓廠通過檢測將石英舟使用壽命從 3 個月延長至 6 個月，年節(jié)約成本 150 萬元。
技術(shù)對比優(yōu)勢相較于 X 射線衍射法（僅適用于金屬表面應(yīng)力檢測）和超聲法（分辨率低），WPA-200 在透明材料領(lǐng)域展現(xiàn)出獨特優(yōu)勢：
適用范圍廣：覆蓋塑料、玻璃、石英等多種透明介質(zhì)；
深度檢測：575nm 波長可穿透多層結(jié)構(gòu)，檢測內(nèi)層應(yīng)力；
無損快速：無需接觸樣品，3 秒內(nèi)完成全視野掃描。
WPA-200 的后續(xù)版本計劃引入 AI 缺陷分類功能，通過機(jī)器學(xué)習(xí)自動識別應(yīng)力異常區(qū)域。結(jié)合近紅外（NIR）技術(shù)，其穿透能力將進(jìn)一步提升，可檢測更深層的內(nèi)部應(yīng)力。此外，與 3D 視覺系統(tǒng)的集成將實現(xiàn)復(fù)雜曲面工件的全表面應(yīng)力分析，推動工業(yè)檢測向智能化、全自動化發(fā)展。
WPA-200 退火應(yīng)力分布儀通過光子晶體技術(shù)與光彈性原理的創(chuàng)新結(jié)合，重新定義了透明材料應(yīng)力檢測的精度與效率標(biāo)準(zhǔn)。其在光學(xué)元件、汽車、半導(dǎo)體等領(lǐng)域的成功應(yīng)用，不僅為企業(yè)帶來直接的成本節(jié)約，更推動了退火工藝從經(jīng)驗驅(qū)動向數(shù)據(jù)驅(qū)動的轉(zhuǎn)型。隨著 AI 和多物理場檢測技術(shù)的融合，WPA-200 將在智能制造中發(fā)揮更為關(guān)鍵的作用。
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