| 產(chǎn)地類(lèi)別 |
進(jìn)口 |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣,綜合 |
WPA-200系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-3500nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇,數(shù)顯塑料退火應(yīng)力儀總代理
一、總代理主體
企業(yè)名稱(chēng):深圳市田野儀器有限公司
代理權(quán)限:日本 Photonic Lattice WPA-200 系列雙折射應(yīng)力儀大中華區(qū)總代理
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二、代理產(chǎn)品核心信息

(一)產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 | 具體規(guī)格 |
測(cè)量范圍 | 雙折射 0-3500nm(可拓展至 10000nm) |
分辨率 | 0.001nm |
重復(fù)精度 | <±1nm(西格瑪) |
測(cè)量速度 | 全域最快 3 秒完成 |
視野尺寸 | 218×290mm-360×480mm(標(biāo)準(zhǔn)) |
輸出項(xiàng)目 | 相位差、軸方向、應(yīng)力值(選配) |
測(cè)量波長(zhǎng) | 520nm、543nm、575nm 三波長(zhǎng) |
(二)核心技術(shù)亮點(diǎn)
1. 原理創(chuàng)新:基于光彈性效應(yīng),融合光子晶體偏光陣列與偏振光電矢量合成技術(shù),實(shí)現(xiàn)非接觸式全域測(cè)量。
2. 效率突破:一次性全域成像,替代逐點(diǎn)掃描,支持產(chǎn)線實(shí)時(shí)監(jiān)控。
3. 維護(hù)優(yōu)勢(shì):無(wú)機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件,模塊化設(shè)計(jì)降低停機(jī)維護(hù)成本。
(三)應(yīng)用場(chǎng)景拓展
• 光學(xué)領(lǐng)域:VR/AR Pancake 鏡片應(yīng)力檢測(cè)(控制 Δn<10nm)、光學(xué)薄膜基材應(yīng)力分析;
• 工業(yè)制造:車(chē)載 HUD 蓋板邊緣畸變控制(<0.5%)、石英玻璃管退火工藝優(yōu)化(開(kāi)裂率降 60%);
• 半導(dǎo)體領(lǐng)域:玻璃基板亞微米級(jí)應(yīng)力缺陷識(shí)別,兼容 SEMI F40 標(biāo)準(zhǔn)。
三、日本 Photonic Lattice 原廠背景
2. 企業(yè)概況:2002 年源于東北大學(xué)光子晶體技術(shù),總部位于日本仙臺(tái),專(zhuān)注光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)研發(fā),2020 年被高速成像 Photron 收購(gòu)。
3. 技術(shù)傳承:核心技術(shù) “自克隆光子晶體制備法" 獲行業(yè)認(rèn)可,WPA-200 于 2015 年被認(rèn)證為 “宮城縣優(yōu)秀產(chǎn)品"。
4. 產(chǎn)品迭代:2009 年推出 WPA-100 系列,2015 年升級(jí)至 WPA-200,成為工業(yè)界應(yīng)力測(cè)量主流設(shè)備。
數(shù)顯塑料退火應(yīng)力儀總代理