澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統(tǒng)，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
澤攸液氦低溫恒溫器 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器 超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導熱隔震，實現(xiàn)樣品臺納米級的機械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設計安裝在光學隔震平臺上。
澤攸手動探針臺系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統(tǒng)，可定制手動探針臺系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產(chǎn)品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產(chǎn)品實現(xiàn)了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點，可應于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準確、穩(wěn)定、使用場景多樣化、完善的技術解決方案、直觀、方便、高度集成。
全自動臺階儀 JS3000B 參考價：面議
國產(chǎn)全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價：面議
國產(chǎn)全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，...
手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產(chǎn)手動手動臺階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS10B提供一個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變...
半自動臺階儀 JS100B 參考價：面議
半自動臺階儀 JS100B 國產(chǎn)半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS100B...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價：面議
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：600000
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。
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