該型號縱向分辨率達納米級，能清晰識別電子元件表面微米級的劃痕與凸起。共聚焦模式下支持 Ra、Rz 等基礎(chǔ)表面參數(shù)計算，符合 ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn)。檢測速度適配中小批量需求，常規(guī)樣品 3D 掃描約 4 分鐘完成，數(shù)據(jù)重復(fù)性良好，多次測量偏差可控。搭配 2.5x 低倍率物鏡時，可實現(xiàn)大視野檢測，減少樣品移動次數(shù)。

核心光學(xué)部件選用高透光率玻璃，雖未采用進階版的鍍膜，但仍能保證日常檢測的圖像清晰度。機身框架采用標(biāo)準(zhǔn)鋁合金，在重量與抗振性之間取得平衡，適合普通車間環(huán)境。內(nèi)部電子元件以穩(wěn)定性為首要選擇，降低維護頻率，長期使用成本更具優(yōu)勢。

以塑料零件粗糙度檢測為例：1. 將零件放在不銹鋼平臺上，用通用夾具固定；2. 打開軟件，選擇 “基礎(chǔ)檢測" 模式，輸入樣品編號；3. 設(shè)置掃描范圍 5mm×5mm，點擊 “開始"；4. 檢測完成后，軟件自動計算 Ra 值并生成 PDF 報告，可直接導(dǎo)出存檔。該型號廣泛適用于電子元件外觀缺陷檢測、塑料配件尺寸篩查、小型金屬零件粗糙度測量等場景。

基礎(chǔ)版 S neox 以高性價比與易用性，成為中小企業(yè)質(zhì)量控制的實用工具。Sensofar白光干涉三維輪廓儀：簡潔實用設(shè)計