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目錄:光焱科技股份有限公司>>傳感器檢測>>SPAD檢測>> SPD2200新型單光子偵測器特性分析設(shè)備

新型單光子偵測器特性分析設(shè)備
  • 新型單光子偵測器特性分析設(shè)備
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 SPD2200
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 高雄市
屬性

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更新時(shí)間:2025-03-27 12:01:04瀏覽次數(shù):4408評價(jià)

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價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,汽車及零部件
暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate) DCR 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
測量模式 咨詢光焱科技專家
單光子探測器可以對單個(gè)光子進(jìn)行探測和計(jì)數(shù),在許多可獲得的信號強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級的新興套用中,單光子探測器可以一展身手。SPD2200是針對新型的單光子偵測器(SPD, Single Photon Detector),如應(yīng)用於dToF的SPAD(Single Photon Avalanche Detector)光感測器,的特性測試分析設(shè)備。

特色

SPD2200具備全光譜性能測試包含


*全光譜光譜回應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)

*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)

*暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)


SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經(jīng)驗(yàn),提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本,並降低測試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開發(fā)週期,提升產(chǎn)品的競爭力。

實(shí)證

*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)係圖

新型單光子偵測器特性分析設(shè)備

*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

新型單光子偵測器特性分析設(shè)備

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

新型單光子偵測器特性分析設(shè)備

*SPAD的Jitter測量

新型單光子偵測器特性分析設(shè)備






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