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目錄:沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司>>實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)及分析儀器>>膜厚儀>> TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)

TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
  • TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
  • TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 沈陽(yáng)市
屬性

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更新時(shí)間:2023-07-20 15:09:23瀏覽次數(shù):1659評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,地礦,能源,綜合
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)根據(jù)反射回來(lái)的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。

產(chǎn)品名稱(chēng)

TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

主要特點(diǎn)

快速、準(zhǔn)確、無(wú)損、靈活、易用、性價(jià)比高

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等)

觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測(cè)試等)

汽車(chē)(防霧層、Hard Coating DLC等)

醫(yī)學(xué)


波長(zhǎng)范圍

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范圍

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

準(zhǔn)確度取決于材料0.4%或2nm之間取較大者

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

樣品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

測(cè)量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸可選微光斑附件。

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在線

掃描選擇

XY可選

XY可選

XY可選

XY可選


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