基恩士出展第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）

基恩士出展第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）

2025年第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將于2025年9月10日-12日在深圳國際會展中心（寶安館）舉行，屆時基恩士將攜VHX-X1系列3D數碼顯微鏡、VK系列形狀測量激光顯微鏡等產品參加展會，展位號：1D41，歡迎各位到場觀展咨詢！

時間：2025年9月10日-12日

地點：深圳國際會展中心（寶安館）  深圳市寶安區(qū)福海街道和平社區(qū)展城路1號

展位：1D41

展出設備：VHX-X1系列3D數碼顯微鏡、VK系列形狀測量激光顯微鏡

■VHX-X1系列3D數碼顯微鏡

可自定義顯微系統(tǒng)全新上市。除超高*分辨率4K CMOS和支持4K的鏡頭外，還搭載了Advanced Optical Shadow Effect Mode功能，甚至能夠清晰地觀測到看不到的細小凹凸。全新操作系統(tǒng)，可直觀操作。瞬間自動判別差異的異常識別功能、分析范圍是傳統(tǒng)平臺9倍*的300 mm大型平臺以及支持金相顯微鏡的高分辨率旋轉鏡頭等，是一個通過各種自定義來支持各種分析業(yè)務的全新顯微鏡系統(tǒng)。

*與本公司VHX 系列產品的比較

·自動突顯瑕疵的“搜索照明"

·突顯真實表面狀態(tài)的“Advanced Optical Shadow Effect Mode"

·瞬間自動判別差異的“異常識別功能"

·自動記錄、再現(xiàn)觀測及測量結果的“快速重播"

■VK系列形狀測量激光顯微鏡

形狀測量激光顯微鏡VK-X3000系列，一臺即可測量納米/微米/毫米的三重掃描方式

搭載白光干涉功能

納米/微米/毫米一臺即可完成測量

超越激光顯微鏡的限制，以三重掃描方式應對

·一臺即可測量納米/ 微米/ 毫米

·一臺即可了解希望獲取的信息

·最高分辨率0.01 nm

期待各位蒞臨了解！

除此之外，我們還有3D輪廓測量儀、3D掃描儀、熒光顯微鏡等多種檢測設備，如需進一步了解設備詳情，可通過電話、留言、在線咨詢等方式聯(lián)系我們，我們將竭誠為您服務。