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美國 PIECAL 多功能校驗(yàn)儀 PIE334

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更新時(shí)間:2022-07-12 15:43:33瀏覽次數(shù):242

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美國 PIECAL 多功能校驗(yàn)儀 PIE334
PIE 校準(zhǔn)器由同一團(tuán)隊(duì)的成員設(shè)計(jì)和制造,該團(tuán)隊(duì)創(chuàng)建了現(xiàn)在由 Fluke* 以 Altek* 標(biāo)簽制造的校準(zhǔn)器。自 1980 年代以來,我們一直在設(shè)計(jì)校準(zhǔn)器,自 2001 年以來一直在為 PIE 設(shè)計(jì)校準(zhǔn)器。改進(jìn)包括簡單的“雙擊菜單"、帶傾斜支架和可選磁鐵帶的橡膠靴、帶有更大數(shù)字的背光顯示器、堅(jiān)固的開關(guān)和用于快速更換電池的電池倉。

詳細(xì)介紹

美國 PIECAL 多功能校驗(yàn)儀 PIE334 美國 PIECAL 多功能校驗(yàn)儀 PIE334


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想要更換過時(shí)的 Altek 校準(zhǔn)器* 或 Transmation 校準(zhǔn)器*?

PIE 校準(zhǔn)器由同一團(tuán)隊(duì)的成員設(shè)計(jì)和制造,該團(tuán)隊(duì)創(chuàng)建了現(xiàn)在由 Fluke* 以 Altek* 標(biāo)簽制造的校準(zhǔn)器。自 1980 年代以來,我們一直在設(shè)計(jì)校準(zhǔn)器,自 2001 年以來一直在為 PIE 設(shè)計(jì)校準(zhǔn)器。改進(jìn)包括簡單的“雙擊菜單"、帶傾斜支架和可選磁鐵帶的橡膠靴、帶有更大數(shù)字的背光顯示器、堅(jiān)固的開關(guān)和用于快速更換電池的電池倉。

PIE 升級(jí)了 Altek 多功能過程校準(zhǔn)器 820 和 Altek 830 過程校準(zhǔn)器、Altek RTD 校準(zhǔn)器 311A 和 211、Altek 熱電偶校準(zhǔn)器 422 和 322-1、Altek 過程電壓分析儀 235 和 Altek 4-20 毫安校準(zhǔn)器 334 的替代品, 334A 和 434。PIE 535 型是用于 10-50 毫安回路的 Transmation 1040 和 Transmation 1080 的**替代品。

在世界任何地方需要時(shí)提供支持

每個(gè) PIE 過程校準(zhǔn)器都是在美國使用來自世界各地的組件設(shè)計(jì)、組裝和校準(zhǔn)的。所有 PIE 校準(zhǔn)器均在紐約州韋伯斯特使用可溯源至 NIST 的設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。與其他僅包含校準(zhǔn)實(shí)踐聲明的校準(zhǔn)器不同,PIE 校準(zhǔn)器標(biāo)配校準(zhǔn)證書和三年保修!

我們建議每年對(duì)我們的產(chǎn)品進(jìn)行重新校準(zhǔn)。請(qǐng)聯(lián)系 PIE 或您當(dāng)?shù)氐慕?jīng)銷商進(jìn)行工廠重新校準(zhǔn)。校準(zhǔn)也可以由貴公司的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室或任何合格的校準(zhǔn)供應(yīng)商執(zhí)行。校準(zhǔn)程序發(fā)布在我們的網(wǎng)站上。

來自 PIE 的**環(huán)路診斷技術(shù)

過程回路中的電流泄漏,有時(shí)稱為接地故障情況,可能是最難診斷和最令人沮喪的問題之一。通常由不正確的接地、腐蝕或潮濕引起,電流泄漏將表現(xiàn)為環(huán)路變送器校準(zhǔn)中的零偏移。使用 PIE 的回路診斷校準(zhǔn)器可讓您立即讀取此電流泄漏。這將為您節(jié)省數(shù)小時(shí)不必要的校準(zhǔn)和故障排除。查看我們的視頻,了解循環(huán)診斷的實(shí)際操作演示。

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