無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
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  • 半導體晶圓快速冷卻系統(tǒng) 芯片散熱水冷機

    【無錫冠亞】半導體晶圓快速冷卻系統(tǒng) 芯片散熱水冷機,冠亞制冷的半導體控溫chiller主要應用與半導體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準控制,40℃以內(nèi)加熱方式采用...

    型號: FLT-006 所在地:無錫市參考價: ¥156654更新時間:2025/1/17 7:56:21 對比
    半導體chillerchiller半導體制冷機高低溫測試機熱流儀
  • 半導體晶圓冷卻裝置 硅片循環(huán)水冷卻機

    【無錫冠亞】半導體晶圓冷卻裝置 硅片循環(huán)水冷卻機 ,冠亞制冷的半導體控溫chiller主要應用與半導體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準控制,40℃以內(nèi)加熱方式采用...

    型號: FLT-004 所在地:無錫市參考價: ¥156655更新時間:2025/1/17 7:52:04 對比
    半導體chillerchiller半導體制冷機高低溫測試機熱流儀
  • 硅片快速冷卻裝置 晶圓快速水冷機

    【無錫冠亞】硅片快速冷卻裝置 晶圓快速水冷機 ,冠亞制冷的半導體控溫chiller主要應用與半導體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準控制,40℃以內(nèi)加熱方式采用壓縮...

    型號: FLT-003 所在地:無錫市參考價: ¥159039更新時間:2025/1/17 7:49:45 對比
    半導體chillerchiller半導體制冷機高低溫測試機熱流儀
  • 硅片冷卻裝置 單晶硅冷卻冷凍機 冷水機

    【無錫冠亞】硅片冷卻裝置 單晶硅冷卻冷凍機 冷水機 ,冠亞制冷的半導體控溫chiller主要應用與半導體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準控制,40℃以內(nèi)加熱方式采...

    型號: FLT-002 所在地:無錫市參考價: ¥159399更新時間:2025/1/17 7:47:21 對比
    半導體chillerchiller半導體制冷機高低溫測試機熱流儀
  • 電子元器件循環(huán)制冷機 半導體溫控機

    【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能...

    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156595更新時間:2025/1/16 15:22:42 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 集成電路板循環(huán)制冷機 水冷散熱模組

    【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能...

    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156590更新時間:2025/1/16 15:20:17 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 元器件循環(huán)制冷機 半導體制作過程水冷機

    【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能...

    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156077更新時間:2025/1/16 15:00:33 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 半導體集成電路Chiller 元器件測試用設(shè)備

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    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156347更新時間:2025/1/16 14:56:47 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 半導體循環(huán)制冷機 集成電路水冷散熱模組

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    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156345更新時間:2025/1/16 14:54:49 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 半導體液冷器Chiller FPD制造裝置制冷機

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    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156320更新時間:2025/1/16 14:52:58 對比
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  • 溫度控制器Chiller 半導體低溫冰水機

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    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156245更新時間:2025/1/16 14:50:46 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • 半導體循環(huán)冷水機 電子元器件循環(huán)制冷機

    【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能...

    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156270更新時間:2025/1/16 14:48:29 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)高精度控溫系統(tǒng)半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • PCB板高低溫測試chiller選型

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:48:30 對比
    chiller unitchiller元器件水冷機半導體高低溫測試機高低溫測試機
  • 電子芯片高低溫存儲試驗chiller知識

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:46:41 對比
    chiller unitchiller元器件水冷機半導體高低溫測試機高低溫測試機
  • 電子元器件高溫貯存試驗chiller選型條件

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:44:57 對比
    chiller unitchiller元器件水冷機半導體高低溫測試機高低溫測試機
  • 電子芯片高低溫循環(huán)檢測chiller故障處理

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:42:28 對比
    chiller unitchiller元器件水冷機半導體高低溫測試機高低溫測試機
  • 閃存Flash高低溫測試chiller的保養(yǎng)常識

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:40:17 對比
    chiller unitchiller元器件水冷機半導體高低溫測試機高低溫測試機
  • 元器件高低溫測試chiller選擇要點

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:38:03 對比
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  • 半導體芯片高低溫測試chiller注意事項

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:35:57 對比
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  • 微處理器芯片測試裝置chiller常見故障

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/12 12:33:35 對比
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