1. 產(chǎn)品概述

SENTECH SENDIRA 為紅外 （FTIR） 而設(shè)計。這款緊湊的臺式儀器包括吹掃橢偏儀光學元件、計算機控制的測角儀、水平樣品平臺、自動準直望遠鏡、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 檢測器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光譜范圍內(nèi)提供出色的精度和高分辨率。

2. 主要功能與優(yōu)勢

測量靈活性

SENTECH SENDIRA 橢圓偏振光譜儀可測量散裝材料、單層和多層堆疊的薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)和相關(guān)特性。該工具可用于覆蓋在可見范圍內(nèi)不透明的層下方的層，使其可用于測量。可以分析材料的組成以及較大分子基團和鏈的取向。

橢圓振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模式的吸收帶分析了薄層的組成。此外，載流子濃度可以用這種FTIR光譜橢偏儀測量。

適用的傅里葉變換紅外

對于 Thermo Fisher Scientific 光譜儀的商用 FTIR iS50，安裝了紅外橢偏儀光學元件。它也可用于一般振動光譜法。

精確的測量和準確的結(jié)果

SENTECH SENDIRA注于薄層的振動光譜分析。應(yīng)用范圍從介電薄膜、TCO 和半導體到有機層。SENDIRA 由 SpectraRay/4 軟件操作。另外還提供FTIR軟件。