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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
二維平移光譜響應(yīng)測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應(yīng)的設(shè)備。這種探針臺結(jié)合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學(xué)性能測試。 PLCTS光譜響應(yīng)測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應(yīng)的設(shè)備。這種探針臺結(jié)合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學(xué)性能測試。在光譜響應(yīng)測試中，探針臺通過精確控制光源和探測器，測量材料在不同波長光照射下的響應(yīng)情況。通過測量光譜響應(yīng)度、量子效率等參數(shù)，可以了解材料對不同波長光的吸收、反射和透射特性，進而評估其光學(xué)性能和應(yīng)用潛力。
技術(shù)優(yōu)勢
·半圓形探針架，可放置6個DC探針座;
· 漏電精度100fA/10pA;
· 整體位移精度3μm;
· 1微米以上電極/PAD使用;
· 樣品臺XYZR四維調(diào)節(jié);
· 模塊化設(shè)計，可以搭配不同構(gòu)件完成多種不同測試需求;
模塊介紹
通用參數(shù)：
樣品臺尺寸 | 4,6,8,12英寸 |
位移精度 | 3um |
漏電精度 | 100fA |
線纜規(guī)格 | 三同軸線纜 |
探針座精度 | 3um |
顯微鏡移動 | 25*25mm |
位移維度 | XY整體位移 |
行程 | X:100mm Y:100mm |
產(chǎn)品示意圖：
產(chǎn)品選型：
產(chǎn)品型號 | 樣品臺尺寸 | 樣品臺位移精度 | 探針座位移精度 | 漏電流精度 |
TLRHC-04 | 4英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-06 | 6英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-08 | 8英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-12 | 12英寸 | 3um | 3um | 100fA |
譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求，定制配套二維平移光譜響應(yīng)度測試探針臺系統(tǒng)，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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