高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)主要用于測量熱釋電材料的熱釋電系數(shù)

閱讀：2339 發(fā)布時(shí)間：2025-7-30

　　高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)是一種用于測量熱釋電材料在高溫環(huán)境下熱釋電系數(shù)的精密儀器，通過分析材料在溫度變化時(shí)產(chǎn)生的表面電荷變化來評估其熱釋電性能。

　　熱釋電效應(yīng)是指材料在溫度變化時(shí)，其自發(fā)極化強(qiáng)度發(fā)生變化，從而在與極化方向垂直的晶體表面產(chǎn)生感應(yīng)電荷的現(xiàn)象。高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)通過測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放的熱釋電電流，結(jié)合溫度變化率，計(jì)算得到材料的本征熱釋電系數(shù)。

　　功能：

　　‌測量熱釋電系數(shù)‌：在均勻升溫過程中，通過檢測材料釋放的電流計(jì)算本征熱釋電系數(shù)，適用于薄膜、厚膜、單晶、陶瓷等不同形態(tài)的材料。 ‌

　　‌溫度控制‌：可實(shí)現(xiàn)RT(室溫)至400℃的高溫環(huán)境控制，控溫精度達(dá)±0.1℃，支持1~10℃/min的升降溫速率。 ‌

　　‌數(shù)據(jù)采集與分析‌：自動(dòng)記錄升溫過程中的熱釋電電流變化曲線，并生成測試報(bào)告，便于科研或工業(yè)應(yīng)用中的性能評估。

　　應(yīng)用領(lǐng)域

　　紅外探測領(lǐng)域：熱釋電材料是紅外探測器的核心材料之一，高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)可用于評估紅外探測器的性能。

　　激光測量領(lǐng)域：利用熱釋電效應(yīng)測量激光脈沖的能量和功率等參數(shù)。

　　材料科學(xué)研究：研究熱釋電材料的性能與溫度之間的關(guān)系，為材料設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供依據(jù)。

　　其他領(lǐng)域：如輻射計(jì)、光譜儀等設(shè)備的研發(fā)和測試中，也廣泛應(yīng)用高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)。

高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)主要用于測量熱釋電材料的熱釋電系數(shù)

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