薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀 參考價(jià):100000
FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流...鐵電綜合測(cè)試系統(tǒng) TSDC/TSC測(cè)試 參考價(jià):100000
FETS-2000是一款擴(kuò)展靈活的鐵電綜合測(cè)試系統(tǒng) TSDC/TSC測(cè)試,既可以測(cè)試變溫電滯回線計(jì)算儲(chǔ)能密度,并具有測(cè)試熱刺激電流TSDC/TSC的功能??蓮V泛...高壓漏電流測(cè)試 參考價(jià):100000
FETS-2000高壓漏電流測(cè)試既可以測(cè)試電滯回線計(jì)算儲(chǔ)能密度,并具有測(cè)試高壓漏電流的功能。可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、...變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
FETS-2000變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集,可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、...功能材料電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)鐵電測(cè)試 參考價(jià):100000
FMET-1000功能材料電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)鐵電測(cè)試與高壓放大器、阻抗分析儀、樣品測(cè)試盒配套使用,可以完成鐵電、介電、壓電、電卡效應(yīng)、TSDC/TSC、熱釋電、絕...變溫極化裝置、超低溫試驗(yàn)箱 參考價(jià):10000
VTPD-3000變溫極化裝置/超低溫試驗(yàn)箱用于樣品制備中的極化工序,可實(shí)現(xiàn)寬溫區(qū)范圍內(nèi)任意溫度下的樣品極化,一次可極化多個(gè)樣品,多路同時(shí)極化時(shí),一個(gè)樣品擊穿不...高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PDTS-3000高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測(cè)試系統(tǒng)即可低溫測(cè)試d33系數(shù),又可以高溫測(cè)試d33系數(shù),具有測(cè)量精度高、溫區(qū)寬、自動(dòng)調(diào)零和校準(zhǔn)等特點(diǎn)。高溫d33測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):60000
PDTS-600高溫d33測(cè)試系統(tǒng)采用準(zhǔn)靜態(tài)法完成高溫變溫條件下d33的自動(dòng)測(cè)量,具有測(cè)量精度高、溫區(qū)寬、自動(dòng)調(diào)零和校準(zhǔn)等特點(diǎn)。變溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):80000
CCDM-2000變溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng)用于研究電容的高電壓充放電性能,集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體,具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能,配有高壓擊穿保...高溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):40000
CCDM-1000高溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng)用于電介質(zhì)的高電壓充放電性能,集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體,具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能,配有高壓擊穿保護(hù)...電容充放電測(cè)試儀 參考價(jià):20000
CCDM-1000電容充放電測(cè)試儀用于研究電容的高電壓充放電性能,集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體,具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能,配有高壓擊穿保護(hù)模塊...高溫介電溫譜偏壓介電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):50000
DPTS-2000E高溫介電溫譜偏壓介電測(cè)試系統(tǒng)適用于高溫環(huán)境下電介質(zhì)材料的介電可調(diào)諧性能的測(cè)試,系統(tǒng)軟件擁有完善的測(cè)量和分析功能,可測(cè)量介電常數(shù)、介電損耗隨電...高低溫介電溫譜偏壓介電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):60000
DPTS-2000E高低溫介電溫譜偏壓介電測(cè)試系統(tǒng)適用于高低溫環(huán)境下電介質(zhì)材料的介電可調(diào)諧性能的測(cè)試,系統(tǒng)軟件擁有完善的測(cè)量和分析功能,可測(cè)量介電常數(shù)、介電損耗...中低溫偏置電場(chǎng)下熱釋電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PCTS-3000E中低溫偏置電場(chǎng)下熱釋電測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法,在熱釋電材料兩端施加直流偏場(chǎng)的條件下,測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算...高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PCTS-3000H高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜...中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、...高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶...偏置電場(chǎng)下熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
PCTS-2000E偏置電場(chǎng)下熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法,在熱釋電材料兩端施加直流偏場(chǎng)的條件下,測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得...熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):80000
PCTS-2000熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)。變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試 參考價(jià):100000
ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量,直接測(cè)量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等...高溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試 參考價(jià):100000
ECTS-2000高溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量,直接測(cè)量高溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特...電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試 參考價(jià):80000
ECTS-2000電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng),電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量,直接測(cè)量電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn),具有高壓擊穿保護(hù)功...電卡效應(yīng)測(cè)試儀/電卡測(cè)試 參考價(jià):50000
ECTS-1000電卡效應(yīng)測(cè)試儀/電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量,直接測(cè)量電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn),具有高壓擊穿保護(hù)功能...變溫鐵電材料測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):100000
研禾科技FETS-2000變溫鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集,可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)