薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀 參考價(jià)：100000
FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流...
高溫鐵電測(cè)試儀 參考價(jià)：100000
研禾科技FETS-2000高溫鐵電測(cè)試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)...
電容充放電測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
CCDM-1000電容充放電測(cè)試儀用于研究電容的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體，具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能，配有高壓擊穿保護(hù)模塊...
變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：100000
FETS-2000變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、...
變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試 參考價(jià)：100000
ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量，直接測(cè)量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等...
中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：100000
PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、...
高低溫介電溫譜測(cè)試儀 參考價(jià)：100000
DPTS-3000高低溫介電溫譜測(cè)試儀（單通道、多通道）兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表，同時(shí)具有單通道和4通道測(cè)量模式，單通道模...
高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：100000
DPTS-RT-600高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、介電頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試箱、高溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連...
功能材料電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)鐵電測(cè)試 參考價(jià)：100000
FMET-1000功能材料電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)鐵電測(cè)試與高壓放大器、阻抗分析儀、樣品測(cè)試盒配套使用，可以完成鐵電、介電、壓電、電卡效應(yīng)、TSDC/TSC、熱釋電、絕...
高溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：40000
CCDM-1000高溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng)用于電介質(zhì)的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體，具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能，配有高壓擊穿保護(hù)...
超低溫試驗(yàn)箱 高低溫測(cè)試箱 溫度箱 參考價(jià)：50000
VTMP400-超低溫試驗(yàn)箱 高低溫測(cè)試箱 溫度箱是一款模塊化設(shè)計(jì)、可按用戶要求預(yù)留電氣接口、定制測(cè)試夾具的高低溫試驗(yàn)箱，低溫可降至液氮溫度，高溫可升到400℃...
電卡效應(yīng)測(cè)試儀/電卡測(cè)試 參考價(jià)：50000
ECTS-1000電卡效應(yīng)測(cè)試儀/電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量，直接測(cè)量電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn)，具有高壓擊穿保護(hù)功能...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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