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FETS-2000-高低溫鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
  • FETS-2000-高低溫鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
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貨物所在地:湖北武漢市

地: 武漢

更新時(shí)間:2024-03-12 10:12:36

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研禾科技FETS-2000高低溫鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集,可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)試、保持力測(cè)試等鐵電性能的檢測(cè),另外還有壓電測(cè)試、介電測(cè)試、電阻率測(cè)試、電容充放電測(cè)試需配合另外升級(jí)選件實(shí)現(xiàn)。


   FETS-2000是一款擴(kuò)展靈活的高低溫鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng),也是一款可替代德國(guó)aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國(guó)產(chǎn)鐵電材料性能測(cè)試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。


   鐵電參數(shù)測(cè)試主要性能指標(biāo):

   a. 外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國(guó)產(chǎn)、進(jìn)口均適用);

   b. 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍0.01 Hz ~ 5 kHz;

   c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展)

   d. 疲勞測(cè)試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

   e. 漏電流測(cè)量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;

   f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。

   g.溫度范圍:-160℃~260℃


   本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測(cè)試平臺(tái)(配鐵電測(cè)試盒)或高低溫探針臺(tái)(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測(cè)試時(shí),無需改變測(cè)試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測(cè)試。


   本測(cè)試系統(tǒng)鐵電性能測(cè)試采用基于虛地模式的測(cè)量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。


   高低溫鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),不同的模塊對(duì)應(yīng)不同的電特性測(cè)量。

   標(biāo)配版鐵電模塊測(cè)試功能:

       動(dòng)態(tài)電滯回線DHM

       靜態(tài)電滯回線SHM

       I-V特性

       脈沖PUND    

       疲勞Fatigue

       變溫測(cè)試THM

   增強(qiáng)版鐵電模塊測(cè)試功能:

   動(dòng)態(tài)電滯回線DHM

   靜態(tài)電滯回線SHM

   I-V特性

   脈沖PUND

   疲勞Fatigue

   電擊穿強(qiáng)度BDM    

   漏電流LM

   電流-偏壓

   保持力RM

   印跡印痕IM

   變溫測(cè)試THM

   可選的模塊

   POM 模塊實(shí)現(xiàn)極化測(cè)量功能

   CVM模塊實(shí)現(xiàn)小信號(hào)電容測(cè)試,獲得C-V曲線

   PZM模塊實(shí)現(xiàn)壓電特性測(cè)試

   DPM模塊測(cè)試介電性能

   RTM模塊測(cè)試電阻/電阻率性能

   CCDM模塊實(shí)現(xiàn)電容充放電測(cè)試


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