高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源5µm EasyTom S / 產(chǎn)品概述
測試特性：尺寸測量、材料表征、缺陷分析、內(nèi)部結構無損檢測
適用領域：工業(yè)零部件
可以對工件進行高分辨率內(nèi)部可視化和測量分析，掃描體積為直徑180mm、高度400mm，分辨率低至2μm，4軸高精度花崗巖機械結構，占地面積小易于集成，適合中小尺寸零件。
高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源5µm EasyTom S / 產(chǎn)品特點
微焦點發(fā)生器：出色的CT分辨率2um
高速探測器：較快掃描6秒
增強的機械性能：能夠長期穩(wěn)定工作的花崗巖軸自動化掃描重建和檢驗工作流程
多種采集模式：常規(guī)、螺旋、移位、堆積
高可用性：低維護停機時間
檢測體積大(Φ185×H390mm）
機柜尺寸（高X寬X直徑）：1865mm x 1325mm x 890mm
易于集成：占地面積小-即插即用1865×1325×890mm（高×寬×厚度）
技術規(guī)格
軸數(shù) | 4 |
zui大SDD | 610 mm |
掃描體積 | ?180×400mm |
zui大樣品重量 | 5kg |
設備重量 | 1020kg |
射線源數(shù)量 | 1個 |
外部尺寸 | 1430×900×1870mm(W×D×H) |
輻射安全 | 高級的 X 射線屏蔽柜集成保護（設備表面任何地方的輻射量<0.5µSv/ 小時） |
軟件 | 所有設備都由 RX Solutions 自有的 X-Act 軟件控制 |
機械系統(tǒng) | 高級光學蜂窩面包板結構，確保了 CT 掃描的穩(wěn)定性花崗巖底座，確保溫度穩(wěn)定性和良好的阻尼性能 |
平板探測器（選配） | 像素矩陣1920x1536；像素間距127 µm；尺寸25×20 cm 像素矩陣2048x2560；像素間距124 µm；尺寸32×25 cm |
相機探測器（選配） | 像素矩陣4008x2672；像素間距9 µm；尺寸36×24 mm |
X射線管（選配） | 封閉管：zui大電壓110微米；zui大功率16W；zui大分辨率2µm 封閉管：zui大電壓130微米；zui大功率39W；zui大分辨率5µm 封閉管：zui大電壓150微米；zui大功率75W；zui大分辨率5µm |
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