光譜測(cè)金儀K5黃金檢測(cè)儀體型小巧 返回列表頁

XRF-K5貴金屬檢測(cè)儀是西凡儀器針對(duì)貴金屬成分檢測(cè)的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置i3十核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，性價(jià)比高。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鉀K(19)～鈾U(92)

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

分析范圍：0.010%～99.999%

檢測(cè)精度：±0.03%(9999金)

檢測(cè)樣品：貴金屬合金

錸鎢檢測(cè)報(bào)警

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

軟件界面簡(jiǎn)潔明了，支持多種自定義報(bào)告

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN

探測(cè)器面積：6mm²

分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鋁

靶材：鎢

焦點(diǎn)：Φ0.5mm

準(zhǔn)直器：Φ2.5mm