Andor光譜儀與偵測器

Andor光譜儀與偵測器特色：

√Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗偵測

√依光譜儀聚焦長度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750

√光譜儀雙向輸出設(shè)計可使用不同光譜范圍之偵測器

√自動化狹縫控制

Andor光譜儀與偵測器應(yīng)用：

√吸收-透射-反射(UV-NIR)

√顯微拉曼/熒光光譜

√多通道光譜偵測

√時間解析光譜

iDus CCD Cameras

波長為2.2 µm

200-1100 nm

Newton CCD

200-1100 nm

iVac CCD Cameras

200-1100 nm

iXon EMCCD Camera

200-1100 nm

iDus InGaAs

•iDus 1.7µm InGaAs

900-1700 nm

•iDus 2.2µm InGaAs

1000-2200 nm

無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用，為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù)，以及其性能限制，為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時，我們會幫助輔導(dǎo)客戶完成整個分析過程，得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求，提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。