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時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀
參考價(jià): 36800
訂貨量: 5
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號
  • 其他品牌 品牌
  • 生產(chǎn)商 廠商性質(zhì)
  • 北京市 所在地

訪問次數(shù):62更新時(shí)間:2025-04-03 11:20:38

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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 石油,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司多年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品
產(chǎn)品介紹
概述
     時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司多年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,能夠快速、無損傷、精準(zhǔn)地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位及對缺陷的定量和定性,廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。


超聲波探傷儀的國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 12604.1-2005 無損檢測 術(shù)語 超聲檢測

  • JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件

  • JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程

  • GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級

  • JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無損檢測 第3部分:超聲檢測

  • JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級法

  • SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測

  • TIME1130嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求


功能特點(diǎn)
  • 新開發(fā)的、采用國內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器",實(shí)現(xiàn)與探頭的很好匹配,對檢測高衰減材料或厚工件具有膠佳的穿透力和信噪比;而對檢測薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。

  • 的電路設(shè)計(jì),采用12bits 80MHz采樣片,配合5.7"TFT (640x480)高分辨率彩色液晶顯示屏,確保能快速、準(zhǔn)確地對缺陷的回波信號進(jìn)行顯示和分析,對各種弱小信號的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng),回波信號的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證,對缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。

  • 支持動態(tài)錄像功能,可記錄4個(gè)動態(tài)記錄文件,每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形。(可外接U盤存貯到4個(gè)文件,每個(gè)文件半個(gè)小時(shí))通道保存、通道存儲菜單化操作,大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲。

  • 支持灰度B掃功能,可顯示截面灰度B掃描,一個(gè)屏幕顯示豐富信息量,可用于簡單TOFD應(yīng)用。

  • 豐富的波形凍結(jié)功能,波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能,還具有定時(shí)釋放能力,大大方便用戶操作。

  • DAC、DGS曲線評定,取點(diǎn)不受限制,并內(nèi)置國內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn),可直接通過選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級自動設(shè)置DAC曲線的三線偏移量,內(nèi)帶“美國鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級AWS D1.1"評定標(biāo)準(zhǔn),使檢測更加得心應(yīng)手。方便現(xiàn)場使用。

探傷功能
  • 波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷波,標(biāo)定缺陷值

  • 實(shí)用AVG:實(shí)用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(X>3N,N為近場距離)

  • 動態(tài)記錄:檢測實(shí)時(shí)動態(tài)記錄波形,存儲、回放

  • 缺陷定位:實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S

  • 缺陷定量:實(shí)顯SL定量值(DAC曲線實(shí)時(shí)定量)

  • 缺陷定性:通過包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷

  • 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算

  • 灰度B掃描:實(shí)時(shí)掃查,描述缺陷橫切面

時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù)
  • 基本參數(shù)

  • 測量單位:mm、inch、ms

  • 掃描范圍(mm):零界面入射~10000

  • 聲速調(diào)節(jié)(m/s):600~16000

  • 探頭延遲(us):-1.000~750.000

  • 顯示延遲(us):-20~+3400

  • 工作方式:單探頭、雙探頭、透射

  • 波形顯示方式:A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示

  • 脈沖發(fā)生器

  • 脈沖形式:模擬方波

  • 發(fā)射電源(V):100~400,10V步距可調(diào)

  • 發(fā)射脈寬(ns):75、100~500,50ns步距可調(diào)

  • 探頭阻尼(Ω):50、100、200、500

  • 發(fā)射重復(fù)頻率(Hz):10~1000

  • 接收器

  • 增益(dB):0~110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào)

  • 總帶寬(MHz):0.5~20

  • 檢波方式:正半波、負(fù)半波、全波、射頻

  • 垂直線性誤差:±2%

  • 放大器精度(dB):±1

  • 抑制(%):屏高的0~80

  • 采樣速率(MHz):單片80 12bits

  • 發(fā)射串?dāng)_抑制(dB):≥80

  • 發(fā)射脈沖后盲區(qū)(μs):≤10(與發(fā)射有關(guān))

  • 動態(tài)范圍(dB):≥40

  • 瞬時(shí)分辨力(dB):≥32

  • 水平線性誤差:≤.1%

  • 靈敏度余量:≥62dB

  • 測量參數(shù)

  • 測量閘門:2個(gè)獨(dú)立測量閘門

  • 檢測方式:邊沿、峰值

  • 閘門測量:回波的幅值、聲程、深度、投影等

  • 凍結(jié):凍結(jié)方式有:全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式

  • AVG當(dāng)量計(jì)算:根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動計(jì)算缺陷當(dāng)量評估

  • DAC缺陷定量:根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對缺陷進(jìn)行評估

  • 閘門邏輯:關(guān)、測量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警

  • 閘門報(bào)警:關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存

  • 報(bào)警蜂鳴:關(guān)、開

  • 數(shù)據(jù)管理,通信及打印

  • 數(shù)據(jù)存儲:

  • 50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄

  • 1000幅波形圖(包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形)

  • 4x2000幀的動態(tài)波形

  • 數(shù)據(jù)管理:

  • 實(shí)現(xiàn)對通道、波形、動態(tài)記錄的存儲、查看、回放操作

  • 上述均可存儲到本地或U盤

  • 通信:通過USB接口與PC機(jī)通信

  • 輸出接口

  • USB OTG接口:

  • USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口

  • USB2.0 Host 接U盤

  • 其它

  • 產(chǎn)品重量(kg):約1.6

  • 產(chǎn)品外型尺寸(mm):300×180×58(不帶遮光罩)

  • 工作溫度(℃):-10~+50

  • 存儲溫度(℃):-20~+60

  • 語言:英語、中文

  • 探頭連接:LEMO 或BNC

  • 電池容量(mAh):

  • 聚合物電池:2×3.7V 5000mAh

  • 電池工作時(shí)間(h):不低于8

  • 充電時(shí)間(h):不超過8

  • 電源適配器:輸出9V DC/3A~4A

基本配置
  • TIME1130超聲波探傷儀主機(jī)

  • 直探頭2.5MHz20

  • 斜探頭5MHz8×9K2

  • 探頭連接電纜

  • 電源適配器

  • 通訊線

  • USB接口

  • 軟件光盤

可選附件
  • 時(shí)代超聲波探傷儀探頭

  • 時(shí)代超聲波探傷儀試塊





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