掃描電子顯微鏡 Apreo 系列 返回列表頁

? Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

? Apreo 受益于的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?？蛇x低真空模式樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求最嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。

? 通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。