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ZEISS掃描顯微鏡返回列表頁(yè)

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產(chǎn)品型號(hào)

品牌ZEISS/蔡司

廠商性質(zhì)代理商

所在地北京市

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更新時(shí)間：2024-11-27 10:02:34瀏覽次數(shù)：231次

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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合

ZEISS掃描顯微鏡用于常規(guī)SEM掃描電鏡顯微分析應(yīng)用的一體化EDS解決方案。

ZEISS掃描顯微鏡優(yōu)勢(shì)

模塊化的SEM平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用。

EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無(wú)論是在生命科學(xué)，材料科學(xué)，或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置，EVO都可以根據(jù)您的要求量身定制。

顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案。

不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品。

使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量。

對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色。

可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求。

ZEISS掃描顯微鏡

便捷的可用性

SmartSEM Touch可以通過(guò)使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡(jiǎn)單易學(xué)，大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。

ZEISS掃描顯微鏡

優(yōu)異的圖像質(zhì)量

EVO 擅長(zhǎng)于對(duì)未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)，維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí)，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、對(duì)比度和信噪比。

ZEISS掃描顯微鏡

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分，通過(guò)重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來(lái)進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn)，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。

專家用戶

優(yōu)選用戶界面: SmartSEM。

專家用戶可以獲取以及設(shè)定高級(jí)的成像參數(shù)和分析功能。

ZEISS掃描顯微鏡

SmartSEM: 為有經(jīng)驗(yàn)用戶使用的控制界面。

新手用戶

優(yōu)選用戶界面: SmartSEM Touch。

新手用戶可以使用預(yù)定義的工作流程和常用的一些參數(shù)-非常適合初學(xué)者。

ZEISS掃描顯微鏡

SmartSEM Touch: 是一款在觸摸屏電腦上運(yùn)行的簡(jiǎn)化圖形用戶界面。

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)。

工作流程自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處。

ZEISS掃描顯微鏡

Shuttle & Find 將EVO、光學(xué)顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個(gè)關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程。

由于蔡司是各種類型顯微鏡和計(jì)量系統(tǒng)的優(yōu)秀供應(yīng)商，所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合，使其功能能夠發(fā)揮得更好。

通過(guò)使用Shuttle & Find（蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分），您可以在（數(shù)碼）光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立一個(gè)高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學(xué)顯微鏡的光學(xué)對(duì)比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合，獲得互補(bǔ)的數(shù)據(jù)，從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機(jī)理。