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日本大塚otsuka SMART光學(xué)膜厚計(jì)測(cè)厚儀與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場(chǎng)"以非破壞式直接量測(cè)樣品,且可以量測(cè)特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀...
日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)● nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法(DLS法)測(cè)量粒徑(粒徑0.6nm~10um)...
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