納米粒度電位儀 返回列表頁

Zetasizer Pro是一款功能強大、用途廣泛的常規(guī)實驗室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過以往的兩倍，大大加快了樣品處理速度。

由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光學設計，該技術將背散射檢測技術與可變測量位置和高效光纖技術結合在一起，與傳統(tǒng)DLS相比，顯著增加了樣品濃度范圍和粒度的測量范圍。 

濾光片轉盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實現(xiàn)分析靈活性。

特點和優(yōu)點

憑借以下優(yōu)勢，即使剛入門的用戶也能使用 Zetasizer Pro 完成高質(zhì)量的測量：

動態(tài)光散射 (DLS)  用于測量從0.3 nm 到 10 m 的顆粒和分子的粒度及粒度分布 

電泳光散射 (ELS)  用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團聚傾向性

非侵入背散射 (NIBS) 技術顯著擴大了動態(tài)范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實現(xiàn)高靈敏度

具有恒流模式的M3-PALS可以在高導電介質(zhì)中測量Zeta電位和電泳遷移率 

以樣品為中心的ZS Xplorer軟件可以實現(xiàn)靈活的指導式使用，并可輕松構建復雜的模型  

“自適應相關"算法能生成可靠且可重復的數(shù)據(jù)，同時計算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量，實現(xiàn)更具代表性的樣品視圖

通過深度學習實現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量系統(tǒng)可以評估粒度數(shù)據(jù)質(zhì)量問題，并針對如何改進結果提供明確的建議

濾光片轉盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實現(xiàn)分析靈活性 

如果您的需求發(fā)生改變，可現(xiàn)場升級到Zetasizer Ultra  

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一系列可拋棄及可重復使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量