顯微原位CT 返回列表頁

XPloreVista 3000 4D是一款專為特殊環(huán)境設(shè)計(jì)的高精度分辨率分析儀器，配備了前沿的納焦點(diǎn)射線源和升級的機(jī)械結(jié)構(gòu)，能夠在納米級別精確表征樣品結(jié)構(gòu)，確保在高精度要求下的優(yōu)異性能。其標(biāo)配的原位臺亦不會影響測量精度。

特點(diǎn)與優(yōu)勢

先進(jìn)的納焦點(diǎn)射線源

結(jié)構(gòu)全面升級

不影響精度的標(biāo)配原位

極限表征，納米尺度空間分辨率

應(yīng)用相關(guān)

復(fù)合材料領(lǐng)域

紡織材料領(lǐng)域

增材制造領(lǐng)域

金屬材料領(lǐng)域

生命科學(xué)領(lǐng)域

地質(zhì)汽油領(lǐng)域

半導(dǎo)體芯片領(lǐng)域

新能源電池領(lǐng)域

鑄件注塑領(lǐng)域

熱力耦合領(lǐng)域

應(yīng)力腐蝕領(lǐng)域

熱壓燒結(jié)領(lǐng)域