氬離子束場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 返回列表頁(yè)

氬離子束場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 ABSEM 200，作為一款創(chuàng)新的多功能樣品制備和分析系統(tǒng)，突破性地將寬束氬離子槍集成于掃描電鏡的樣品室內(nèi)，成功實(shí)現(xiàn)了離子束原位拋光以及高分辨電子束成像分析的無(wú)縫銜接，無(wú)需繁瑣的樣品轉(zhuǎn)移流程極大地提升了分析效率。 ABSEM 200 所搭載的寬離子束技術(shù)，具備強(qiáng)大的處理能力，能夠輕松應(yīng)對(duì)毫米級(jí)的大尺寸樣品，極大地拓寬了其應(yīng)用范圍。掠射角的設(shè)計(jì)可以有效降低在處理過(guò)程中對(duì)樣品造成的損傷，確保了樣品的完整性和原始狀態(tài)。納米級(jí)層切模塊能夠精準(zhǔn)控制去層厚度，且擁有雜屑捕獲裝置確保系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行，有效避免了雜屑對(duì)實(shí)驗(yàn)的干擾和潛在風(fēng)險(xiǎn)。 ABSEM 200特別適用于環(huán)境敏感或結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣品，為用戶提供了一種高效精確的樣品表征解決方案。