3D光學輪廓儀 返回列表頁

采集只需一秒鐘。利用 S wide 的條紋投影技術(shù)和一系列不同的采集模式，可以優(yōu)化測量以實現(xiàn)超高的量測效率。

生產(chǎn)質(zhì)量保證

易于使用

使用 S wide 進行測量非常簡單：加載樣品、設(shè)置方法以及檢查結(jié)果。

高分辨率 3D 成像

捕捉每個細節(jié)

這款 3D 掃描儀配備 500 萬像素彩色攝像頭，加上數(shù)字變焦功能，可捕捉樣品的各種細節(jié)。

工業(yè)測量解決方案

大型設(shè)置?

借助 300 x 300 毫米的平臺配置，可測量大量樣品陣列和大面積區(qū)域。

精密光學測量

亞微米級重復性

S wide 采用專有的條紋投影算法，可實現(xiàn)微米級精度，在大面積的測量表面上提供優(yōu)秀的亞微米高度重復性。

高級軟件工具

高效的數(shù)據(jù)提取

S wide 配備了一套分析工具，可以從測量數(shù)據(jù)中提取每條信息：粗糙度和平整度參數(shù)、關(guān)鍵尺寸、GD&T 和 CAD 比較。