3D光學輪廓儀 返回列表頁

SENSOFAR公司作為干涉共焦顯微鏡的發(fā)明者，開創(chuàng)性地將共聚焦和干涉技術(shù)結(jié)合在一起，設(shè)計和制造了S NEOX系列的3D光學干涉共焦顯微鏡。無需插拔任何硬件就可以在軟件內(nèi)自動實現(xiàn)共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換。使客戶無需花費高昂的費用就能同時擁有共聚焦顯微鏡和干涉儀。客戶即擁有共聚焦技術(shù)的超高XY軸分辨率最高0.14um,又有干涉技術(shù)的亞納米級Z軸分辨率可達0.1nm及高達0.1%的測量重復(fù)性。

SENSOFAR在1999年創(chuàng)立之初，就是以三維表面形貌測量為主要研發(fā)方向，通過持續(xù)不斷地研發(fā)和研發(fā)技術(shù)，在全球范圍內(nèi)創(chuàng)造了數(shù)百種表面形貌測量應(yīng)用產(chǎn)品，積累了豐富的技術(shù)實力。

新型S NEOX主要技術(shù)優(yōu)勢如下：

優(yōu)勢1  第5代干涉共焦顯微鏡，更加精準易用

新型 S neox 是sensofar公司開發(fā)的第5代干涉共焦顯微鏡，在性能、功能、效率和設(shè)計方面遠遠優(yōu)于現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡或白光干涉儀。第5代 S neox 系統(tǒng)的誕生，使得操作更易于使用、直觀且更快速。即使是初學者，只需點擊一下，即可操作測量，可快速切換共焦、白光干涉和相位差干涉測量模式，滿足從粗糙表面到平滑表面測量需求。

優(yōu)勢2  Microdisplay共焦技術(shù)，可實現(xiàn)掃描頭內(nèi)無運動部件

SENSOFAR設(shè)計的Microdisplay共焦技術(shù)（微型程控顯示掃描共焦技術(shù)），做到了掃描頭內(nèi)無運動部件，解決了共聚焦掃描一直以來的問題---有部件要高速運動，實現(xiàn)了既能高速掃描，又能避免部件運動造成震動影響精度。

優(yōu)勢3 優(yōu)秀的掃描速度，數(shù)據(jù)采集速度高達 180幀/秒

新型 S neox作為第5代最新干涉共焦顯微鏡，通過采用新的智能和優(yōu)秀的算法以及新型相機（500萬像素相機），達到可觀的速度。數(shù)據(jù)采集速度達 180幀/秒。標準測量采集速度比以前快 5 倍。典型三維圖片獲取時間僅需3秒。

優(yōu)勢4  測量的可追溯性

每一臺 S neox 皆為提供準確和可追溯的測量而精心制造。系統(tǒng)使用符合ISO 25178 標準的可追溯標準進行校準，包括：縱向精度、橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度?？梢绘I實現(xiàn)ISO25178和ISO4287粗糙度測量，無需復(fù)雜的粗糙度參數(shù)設(shè)置。

優(yōu)勢5  三合一的3D測量技術(shù)（共聚焦、干涉、多焦面疊加）

Sensofar 的三合一3D測量方法—只需點擊一次，系統(tǒng)即可切換到適合當前測量任務(wù)的最合適技術(shù)。在 S neox 傳感器頭中配置三種3D測量技術(shù)：共聚焦測量、干涉測量、Ai 多焦面疊加測量，這些都為系統(tǒng)的多功能性做出了重要貢獻，并有助于最大限度地減少數(shù)據(jù)采集中的噪點。S neox 是所有實驗室環(huán)境的理想之選,適用范圍廣泛，適合粗糙，到光滑及超光滑表面3D測量。

優(yōu)勢6  Sensofar最新的共焦技術(shù)：連續(xù)共聚焦掃描技術(shù)

針對一般共聚焦設(shè)備掃描速度慢的問題，Sensofar研發(fā)了連續(xù)共聚焦掃描方式，即保證了掃描精度，提高了圖像支架，又將掃描速度提高了3倍。

優(yōu)勢7  Sensofar最新的共焦技術(shù)：融合共聚焦測量

SENSOFAR還推出了融合共聚焦掃描模式，將共聚焦和多焦面疊加兩種模式的優(yōu)勢結(jié)合，實現(xiàn)了可測最大86度的斜率并具有納米級Z軸精度的三維測量。融合共聚焦能提供更好的測量效果，獲取更好的圖像質(zhì)量，同時可獲得比共聚焦和多焦面疊加更可靠的數(shù)據(jù)。

優(yōu)勢8 智能噪音檢測—有效提高圖像質(zhì)量，消除噪點

S neox 使用檢測算法(SND) 檢測那些不可靠的數(shù)據(jù)像素。與使用空間平均的其他技術(shù)相比，S neox 在不損失橫向分辨率的情況下逐像素處理。

優(yōu)勢9 高性能軟件分析系統(tǒng)Senso View

Senso View是一種交互式分析工具，2D 和 3D 的交互式視圖提供多種縮放、顯示和渲染選項。提供一套全面的工具，用于 3D 或2D 測量的初步檢查和分析。可以測量關(guān)鍵尺寸、角度、距離、直徑，并使用新的注釋工具突出顯示特征?？蓪崿F(xiàn)剖面線上多段高度差測量；可測量剖面線多段高度信息，并實時顯示在剖面線測量圖上。