單片OLED器件IVL測量 返回列表頁

　　單片OLED器件IVL測量的系統(tǒng)概述：對于OLED科研類機(jī)構(gòu)用戶，僅考慮測試功能和精度，不考慮測試效率的情況下，可選擇單工位的IVL及視角測試系統(tǒng)。與多工位機(jī)臺相比，僅保留一個(gè)帶視角的工位和治具，機(jī)臺尺寸更緊湊。同時(shí)可取消選配工業(yè)視覺對位相機(jī)。

　　單片OLED器件IVL測量的軟件介紹：

　　I-V-L曲線測量的設(shè)定：

　　1.可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進(jìn)行連續(xù)的測量。

　　2.可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進(jìn)行連續(xù)測量。

　　3.可以單獨(dú)設(shè)定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時(shí)僅測電流電壓，超過下限值后同時(shí)測電壓電流亮度等數(shù)據(jù)。

　　4.可以設(shè)定并保存設(shè)定的機(jī)種參數(shù)，下次測量時(shí)可以直接調(diào)用。

　　I-V-L的測量數(shù)據(jù)：

　　測量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m2)，電流效率(mA/cm2)，發(fā)光效率，外量子效率，色坐標(biāo)(x，y)，色溫，顯色指數(shù)CRI，發(fā)光光譜。

　　輸出的測量項(xiàng)報(bào)表中的圖表包括：Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra。