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多片OLED器件IVL測量

主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)廠家，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度特性測試需求。

OLED發(fā)光器件的IVL測試，如電流密度、電壓、電流效率、流明效率、1931色坐標(biāo)、亮度、QE、光譜、電流、1976色坐標(biāo)，并可選配底板加熱，進(jìn)行預(yù)定的高溫下的對(duì)應(yīng)測試。

多種機(jī)型可選，工位靈活配置。

系統(tǒng)特點(diǎn)

1.大批量器件的測試
系統(tǒng)配有多通道電路選擇器，可支持多達(dá)24片共96個(gè)發(fā)光點(diǎn)的OLED器件依次點(diǎn)亮測試（具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量可定制）。測試前可預(yù)點(diǎn)亮所有發(fā)光點(diǎn)以確認(rèn)器件是否均正常。

2.發(fā)光區(qū)域中心自動(dòng)對(duì)位識(shí)別
工業(yè)視覺對(duì)位CCD自動(dòng)識(shí)別發(fā)光點(diǎn)位置，不管是垂直測IVL還是旋轉(zhuǎn)器件測視角亮度，始終保證測量點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)發(fā)光區(qū)域中心。

3.大視角范圍測試
即使是3*3mm的發(fā)光點(diǎn)，在測視角時(shí)仍可以滿足75度視角以上的測試要求。同時(shí)工業(yè)視覺對(duì)位相機(jī)可修正旋轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的測量點(diǎn)偏差，保證大視角下測量點(diǎn)依然對(duì)準(zhǔn)器件發(fā)光中心。

4.高低溫溫控箱
可選配高低溫箱（溫控范圍：-40-100℃）

5.光譜儀的高速測量
為節(jié)省低輝度下的光譜儀測量時(shí)間，弗士達(dá)支持CS-2000A的高速Dll模式并對(duì)其優(yōu)化，以實(shí)現(xiàn)亮度大量程和快速測量的結(jié)合，以節(jié)省測量時(shí)間，提高機(jī)臺(tái)的測試效率