賽默飛RoHS全面解決方案助您輕松應(yīng)對GB 26572-2025新國標(biāo)

我國電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)管控領(lǐng)域首個強制性國家標(biāo)準(zhǔn)《電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用要求》（GB 26572-2025）經(jīng)國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會批準(zhǔn)發(fā)布，將于2027年8月1日正式實施。

當(dāng)前，中國RoHS管控主要依據(jù)GB/T 26572-2011《電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)的限量要求》和SJ/T 11364-2024《電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用標(biāo)識要求》，兩項均為推薦性標(biāo)準(zhǔn)。強制性新國標(biāo)的發(fā)布，將有效解決推薦性標(biāo)準(zhǔn)監(jiān)管力度不足的問題，這對于推動行業(yè)綠色升級、保護(hù)消費者健康和生態(tài)環(huán)境具有重要意義。

新國標(biāo)自2027年8月1日實施，過渡期為2年，另加1年庫存產(chǎn)品消納期。

一、新國標(biāo)的變化

新國標(biāo)將電器電子產(chǎn)品管控有害物質(zhì)種類由六大類增至十大類，新增4項鄰苯二甲酸酯，與歐盟RoHS要求保持一致。受限物質(zhì)種類及其限值如下表所示[1]。

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測試方法采用GB/T 39560系列標(biāo)準(zhǔn)，等同采用IEC62321系列國際標(biāo)準(zhǔn)，保持我國RoHS有害物質(zhì)檢測技術(shù)及測試結(jié)果與國際同步，提升認(rèn)可度。

二、賽默飛解決方案

1. 熱裂解-氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用（Py-GCMS）快速篩查方案

賽默飛Py-GCMS快速篩查方案參考IEC 62321-8:2017《電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第8部分：氣相色譜-質(zhì)譜法（GC-MS）與配有熱裂解/熱脫附的氣相色譜-質(zhì)譜法 （Py/TD-GC-MS）測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯》和IEC 62321-3-3:2021《電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第3-3部分：使用Py/TD?GC?MS對聚合物中的多溴聯(lián)苯，多溴二苯醚，特定鄰苯二甲酸酯進(jìn)行篩查》。

本方案操作簡單，無需前處理，無需有機(jī)溶劑，可直接取樣上機(jī)測定，特別適合需要快速篩查產(chǎn)品是否符合新國標(biāo)和歐盟RoHS標(biāo)準(zhǔn)的用戶

除此之外還提供包括紅磷阻燃劑，SCCPs（短鏈氯化石蠟），MCCPs（中鏈氯化石蠟），TBBPA（四溴雙酚A）快速篩查方案，滿足更多測試需求

圖1 熱裂解-氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀

圖2 熱裂解-氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀同時測定7項鄰苯二甲酸酯 TIC圖（點擊查看大圖）

圖3 熱裂解-氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀測定溴代阻燃劑 TIC圖

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2. 精確定量方案

采用賽默飛配備液體自動進(jìn)樣器的ISQ7610氣質(zhì)聯(lián)用儀，以及iCAP PRO系列等離子體發(fā)射光譜儀可對GB 26572-2025管控的10大類有害物質(zhì)進(jìn)行精確定量。

① 對于4項鄰苯二甲酸酯和2項溴化阻燃劑

當(dāng)ISQ7610氣質(zhì)聯(lián)用儀同時配置液體進(jìn)樣器和熱裂解儀，快速篩查方案可與精確定量方案集于一身，同一套設(shè)備即可做快速篩查也可做精確定量，靈活多變，滿足不同使用需求。

快速篩查方案與精確定量方案的切換無需搬動熱裂解儀和液體自動進(jìn)樣器，操作簡便，省時省力。

ISQ7610具有真空鎖定功能（VPI），可實現(xiàn)不停機(jī)，免放空進(jìn)行離子源維護(hù)和更換色譜柱，最大化生產(chǎn)力，結(jié)合同一臺GCMS兼容RoHS快速篩查與精確定量的特點，真正實現(xiàn)不停歇，時刻在線。

圖4 ISQ7610氣質(zhì)聯(lián)用儀配備液體自動進(jìn)樣器

圖5 ISQ7610氣質(zhì)聯(lián)用儀同時配備液體自動進(jìn)樣器以及熱裂解儀實機(jī)照片

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②對于四項重金屬元素

對于Pb、Cd、Hg、Cr的測定，可以采用多種分析方案，AA、ICP-OES、ICP-MS均可以測試，不同的是后兩者的效率更高，而且等離子體溫度高沒有化學(xué)干擾。其中ICP-OES因為耐受基體能力更強，線性范圍寬，是測總量元素的優(yōu)選儀器。Cr6+采用UV（紫外分光光度計）即可滿足RoHS測試要求。

在ICP-OES測試過程中最大的難點是光譜干擾，光譜干擾則與波長、光通量、分辨率有關(guān)。低波長激發(fā)所需能量更大，強度相對來講會偏低，也正因如此，受到的干擾反而比高波長更少。比如高鎳樣品中Pb的測定，紫外區(qū)波長168.218nm、182.205nm明顯更優(yōu)，參照圖6-8。賽默飛iCAP PRO系列ICP-OES的采光錐直徑10mm，是普通金屬冷錐直徑的3-5倍，很大程度上保證了光通量。同時，400萬像素檢測器讓光譜圖中每一個小格子的寬度只有0.002nm，將扣背景的調(diào)整能力提升到極致。

賽默飛ICAP PRO系列ICP-OES高光通量、高分辨率讓痕量元素波長更穩(wěn)定，輕松應(yīng)對高基體中雜質(zhì)元素的測試，去偽存真，讓光譜干擾無處遁形！

圖6四百萬像素、10mm采光錐的元素分析利器-- iCAP PRO

圖7 高鎳樣品中鉛的測定之168.215nm

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圖8 高鎳樣品中鉛的測定之182.205nm

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圖9 高鎳樣品中鉛的測定之220.353nm

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參考資料：

[1] GB 26572-2025 《電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用要求》

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