目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>表面微納測(cè)量>>表面形貌儀>> FPACT-HION光學(xué)表面測(cè)試儀
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更新時(shí)間：2024-09-19 10:02:50瀏覽次數(shù)：436評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
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光學(xué)表面測(cè)試儀是為光學(xué)表面平整度測(cè)試設(shè)計(jì)的平整度測(cè)量儀,采用Shack-Hartmann波前傳感器技術(shù),激光束從被測(cè)光學(xué)表面反射后,進(jìn)入Shack-Hartmann波前傳感器進(jìn)一步分析獲得表面光學(xué)數(shù)據(jù)。
光學(xué)表面測(cè)試儀規(guī)格
•輸入孔徑：10~50mm（可選最大300mm）
•測(cè)量時(shí)間：10ms
•測(cè)量精度：0.032μm（P-V）
•測(cè)量像差P-V值：高達(dá)5μm
•光源-二極管激光器
•激光波長-0.65μm
•探測(cè)器：CCD/CMOS相機(jī)
光學(xué)表面測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果如下：
•P-V和RMS
•像差擴(kuò)展到Seidel和Zernike多項(xiàng)式（傾斜、散焦、像散等）
•條紋展示，二維和三維波前
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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