目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>表面微納測(cè)量>>表面形貌儀>> FPLAS-Hybrid形貌輪廓激光顯微鏡
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更新時(shí)間：2024-08-29 14:33:39瀏覽次數(shù)：238評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
形貌輪廓激光顯微鏡是采用激光顯微鏡技術(shù)的表面輪廓形貌儀器,具有白光共聚焦,激光共聚焦,差分干涉對(duì)比,白光干涉,相移干涉法和光譜反射薄膜厚度測(cè)量6種表面形貌輪廓測(cè)試技術(shù)。
形貌輪廓激光顯微鏡特點(diǎn)
提供高達(dá)6種表面形貌輪廓測(cè)試技術(shù)功能
滿足工業(yè)應(yīng)用的規(guī)格和高精度
多種測(cè)量,分析功能
全自動(dòng)操作
形貌輪廓激光顯微鏡具有共焦光學(xué)，差分干涉對(duì)比度，垂直掃描白光干涉測(cè)量，相移干涉測(cè)量和光譜反射膜厚度測(cè)量。它解決了通常需要使用多種工具的各種需求。
可作為白光共聚焦顯微鏡使用,提供高對(duì)比度,全彩色觀察和高精度3D輪廓形貌測(cè)量功能
可作為激光共聚焦顯微鏡使用,提供高解析度圖像
差分干涉對(duì)比技術(shù)結(jié)合共聚焦光學(xué)提供高對(duì)比度層析圖
垂直掃描白光干涉功能提供納米尺度測(cè)量，特別適合晶圓,薄膜測(cè)量
相位轉(zhuǎn)換干涉技術(shù)提供*高分辨率層析測(cè)量功能
光譜反射技術(shù)可以測(cè)量透明薄膜厚度
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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