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便攜式油膜測厚儀 參考價：面議
德國*便攜式油膜測厚儀，廣泛用于德國大眾汽車公司, 鋼鐵制造和機械制造企業(yè)，的油膜厚度測量范圍：0.2---6g/m^2 （約等于微米）。 孚光精儀公司這款德國...
光纖端面檢測儀顯微鏡 參考價：面議
光纖端面檢測儀顯微鏡SpecVision™ 是光纖檢測視頻顯微鏡和光纖端面成像檢查儀器，可直接與Krell拋光機配合使用，可以在連接器或裸光纖仍裝載...
電子束蝕刻機 參考價：面議
電子束蝕刻機,電子束光刻機是納米級刻蝕機，非常適合納米技術和芯片的制造研發(fā)。
掃描開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離。 樣品安裝到真空吸盤上，真空吸盤可帶著樣品移動150x150mm位移，從...
磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng) 參考價：800000
磁控濺射物理氣相沉積是多功能高壓PVD系統(tǒng),用于磁控濺射和多組分薄膜的熱蒸發(fā)，用于批量晶圓物理氣相沉積加工.磁控濺射物理氣相沉積可在加熱至700℃的晶圓上濺射多...
晶圓真空氧化退火熱處理系統(tǒng) 參考價：面議
這款半導體晶圓熱處理系統(tǒng)是為半導體晶圓在可控氣體、真空、氧化或還原氣氛中的晶圓高溫處理系統(tǒng)，可對晶圓真空退火，氧氣退火處理。 鋁室的特殊設計允許在*溫度（高達1...
磁控濺射沉積系統(tǒng) 參考價：800000
磁控濺射系統(tǒng)MagSput™是下一代磁控濺射沉積系統(tǒng)，實用性腔,可擴展性高,且高度可靠,非常適合磁控濺射鍍膜科學研究。磁控濺射系統(tǒng)可定制。該腔室可設...
電子束-電阻熱蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價：面議
電子束-電阻熱蒸發(fā)復合鍍膜系統(tǒng)集合了電子束沉積鍍膜和電阻式熱蒸發(fā)鍍膜沉積功能。電拋光不銹鋼腔室（D形盒）
III族氮化物分子束外延系統(tǒng) 參考價：面議
這款III族氮化物分子束外延系統(tǒng)專業(yè)為A3N材料生長設計的MBE設備,適合氨氣高溫下制備生長A3N半導體材料,提供非常廣泛的可用生長參數（有效氮通量、襯底溫度、...
三腔室分子束外延MBE系統(tǒng) 參考價：950000
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個MBE分子束外延生長腔室的異質結材料MBE生長設備,可用于在高達∅100mm的襯底上以及三個2英寸以上襯底上一次精確生...
混合異質結構分子束外延系統(tǒng)MBE 參考價：1200000
混合異質結構分子束外延系統(tǒng)具有雙反應器,非常適合А3В5和А2В6異質結構生長應用,也可用于epi晶圓研發(fā)和試生產。
激光分子束外延系統(tǒng) 參考價：980000
激光分子束外延系統(tǒng)Laser MBE是新型激光薄膜制備技術設備,它集成了普通分子束外延（MBE）的超高真空、原位監(jiān)測的*點和脈沖激光沉積（PLD）的易于控制化學...
表面平整度測試儀 參考價：面議
哈特曼測量儀Hartmannometer是為測量光學表面平整度設計的哈特曼分析計量儀器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀 （Fizeau interferomet...
進口Fizeau菲索干涉儀 參考價：面議
這款菲索干涉儀 （Fizeau interferometer）是專業(yè)為光學鏡片平整度測量而研發(fā)的菲佐干涉儀,配套干涉儀軟件可處理帶有額外傾斜的干涉圖。
光學表面測試儀 參考價：面議
光學表面測試儀是為光學表面平整度測試設計的平整度測量儀,采用Shack-Hartmann波前傳感器技術,激光束從被測光學表面反射后,進入Shack-Hartma...
相移式點衍射干涉儀 參考價：面議
移相點衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質量的超高精度測量。移相點衍射干涉儀檢測表面或波前的絕對圖形。絕對數字是指從絕對參考（即亞波長孔徑衍射產生的球面波陣面）計...
單點硅片測厚儀 參考價：面議
單點硅片測厚儀MX30是采用單點測厚技術為硅晶圓厚度測量設計的硅晶圓測厚儀器。適合手動測量單點的晶圓厚度。
多功能翹曲度測定儀 參考價：面議
多功能翹曲度測定儀是一款多參數翹曲度測試儀器,可以測量PCB,IC等翹曲度,應變等參數,更可以檢測隨溫度變化的翹曲度值。
晶圓翹曲度厚度測試儀 參考價：面議
晶圓翹曲度厚度測試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測量和晶圓厚度測量設計的晶圓厚度翹曲度測量儀器。
進口光學薄膜測厚儀 參考價：面議
薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測試儀 參考價：面議
鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試。
光學鏡頭測量儀 參考價：面議
光學鏡頭測量儀是為光學鏡頭和光學模組分析測試設計的光學鏡頭分析測試儀器,滿足鏡頭經典光學參數的測量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
便攜式薄膜測厚儀 參考價：面議
這款便攜式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
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