KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀 返回列表頁

走在前端 以較低的價格

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品，包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層, 僅需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范圍最大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.

容易設(shè)定. 易於維護

只需將KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準，你不需擔心維護問題。

獲得精確的測量.

• 自動基準功能大大增加基準間隔時間, 量測準確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍

• 可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級 測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度

• 我們探頭設(shè)計可排除98％背面反射,當鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高

• 修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象