KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動(dòng)化R-Theta平臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達(dá)450毫米，能高效測繪薄膜厚度。該設(shè)備適...

KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y量工具，實(shí)現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設(shè)備配備集成彩色攝像機(jī)，可在1秒內(nèi)完成...

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實(shí)時(shí)監(jiān)控沉積過程，提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案，適用于多種半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料。其主要特點(diǎn)包括提...

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列，涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm，能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...

KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設(shè)計(jì)，支持快速、簡易的厚度測量，適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動(dòng)校正功能，可...

KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時(shí)測量反射和透射光譜，實(shí)現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價(jià)格合理，具備分析、FWHM確定及顏色分...

KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設(shè)計(jì)的儀器，基于F20平臺(tái)，采用光譜反射分析技術(shù)，提供快速準(zhǔn)確的測量結(jié)果。...

KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒...

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒鐘...