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當前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>測量/計量儀器>>表界面物性測試>> VIT系列硅片表面形貌測量
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號VIT系列
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2023-05-24 16:24:24瀏覽次數(shù):400次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,公安/司法,汽車及零部件,電氣 |
硅片表面形貌測量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測量
Film Stress薄膜應力量測儀
FEOL Electrical Characterization 電學特性
Thin wafer metrology 晶圓測量學
Film Adhesion漆膜附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
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