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光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D 返回列表頁(yè)

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2024-05-22 16:35:15瀏覽次數(shù)：275次

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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,食品,化工,地礦,制藥

光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D

產(chǎn)品種類：非接觸式輪廓儀/粗糙度儀

產(chǎn)地類別：進(jìn)口

工作原理：白光干涉儀

光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D

NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)

針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)
靈活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測(cè)量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù)，測(cè)試過程迅速高效

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測(cè)量
布魯克的NPFLEX^TM3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測(cè)能力，實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?；诎坠飧缮娴脑?，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（CMM）和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEX^TM是第一個(gè)可以靈活地測(cè)量大尺寸樣品的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品

創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測(cè)零件（樣品）更大、形狀更多
開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)部位

高效的三維表面信息測(cè)量

每次測(cè)量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
更容易獲得更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測(cè)量象素點(diǎn)上的亞納米級(jí)別垂直分辨率
工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測(cè)量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測(cè)試的迅速和高效

最少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測(cè)量準(zhǔn)備時(shí)間
比接觸法測(cè)量（一條線）更大的視場(chǎng)（一個(gè)面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)

為客戶量身訂做最合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上，還有很多備選的配件和配置方案，滿足不同客戶的測(cè)量需求：
•可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位，測(cè)量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。
•獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過透明介質(zhì)測(cè)量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結(jié)合環(huán)境測(cè)試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測(cè)量。
•可選的折疊鏡頭能夠測(cè)量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。納米級(jí)分辨率的三維表面信息測(cè)量大家對(duì)很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測(cè)大量的樣品表面定量信息。
許多應(yīng)用在航空航天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測(cè)工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測(cè)量數(shù)據(jù)。
二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。
NPFLEX測(cè)試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級(jí)的垂直分辨率。
所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測(cè)量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。
快速獲取數(shù)據(jù)，保證測(cè)試迅速高效NPFLEX三維測(cè)量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測(cè)試數(shù)據(jù)。
大大縮短了樣品制備時(shí)間和測(cè)量方案設(shè)置時(shí)間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對(duì)樣品的不同表面進(jìn)行測(cè)量。
僅需要不到15秒的時(shí)間，就可以出色地完成一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作。
自動(dòng)對(duì)焦，光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能，大大節(jié)約了測(cè)試分析時(shí)間，而且可以根據(jù)操作者的實(shí)驗(yàn)需求，量身定做的實(shí)驗(yàn)方案，而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。
利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測(cè)量結(jié)果，提供一站式的測(cè)量解決方案。