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目錄:北京儀光科技有限公司>>臺式電鏡&臺階儀&原位分析>>澤攸臺式掃描電鏡>> ZEM20澤攸臺式掃描電鏡結(jié)構(gòu)解析與核心組件

澤攸臺式掃描電鏡結(jié)構(gòu)解析與核心組件

  • 澤攸臺式掃描電鏡結(jié)構(gòu)解析與核心組件
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參考價(jià) 600000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
600000
≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號 ZEM20
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2025-10-23 14:25:30瀏覽次數(shù):72評價(jià)

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澤攸臺式掃描電鏡結(jié)構(gòu)解析與核心組件
作為一款適用于實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)場景的臺式掃描電子顯微鏡(SEM),ZEM20的設(shè)計(jì)兼顧緊湊性與功能性。

澤攸臺式掃描電鏡結(jié)構(gòu)解析與核心組件

作為一款適用于實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)場景的臺式掃描電子顯微鏡(SEM),ZEM20的設(shè)計(jì)兼顧緊湊性與功能性。其整體結(jié)構(gòu)采用模塊化布局,主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、信號探測與處理系統(tǒng)及操作控制單元四大部分構(gòu)成,各組件協(xié)同工作以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量成像與分析。


電子光學(xué)系統(tǒng)是ZEM20的核心。設(shè)備搭載熱發(fā)射電子槍,通過鎢燈絲加熱發(fā)射電子,經(jīng)聚光鏡、物鏡兩級電磁透鏡聚焦,形成納米級電子束掃描樣品表面。物鏡采用無氧銅材質(zhì)繞制線圈,減少磁場畸變,提升電子束斑穩(wěn)定性。值得關(guān)注的是,其電子束流可通過軟件調(diào)節(jié)(范圍5pA-10nA),適配不同導(dǎo)電性樣品的成像需求——低電流適用于脆弱樣品(如生物切片),高電流則用于增強(qiáng)信號強(qiáng)度。
真空系統(tǒng)采用雙級設(shè)計(jì),前級為機(jī)械泵快速預(yù)抽至10?1Pa,后級可選配分子泵進(jìn)一步提升至10??Pa(高真空模式)或保持10Pa(低真空模式)。低真空模式無需噴金處理,可直接觀察含水或易荷電的非導(dǎo)電樣品(如植物葉片、聚合物材料),擴(kuò)展了應(yīng)用場景。真空腔體采用304不銹鋼材質(zhì),內(nèi)壁經(jīng)電解拋光處理,降低氣體吸附,縮短抽真空時(shí)間(高真空模式下約5分鐘)。
信號探測系統(tǒng)配備二次電子探測器(SE)與背散射電子探測器(BSE)。SE探測器通過Everhart-Thornley柵網(wǎng)收集樣品表面二次電子,側(cè)重形貌觀察;BSE探測器采用固態(tài)硅漂移技術(shù),對成分差異敏感,可區(qū)分樣品中不同元素區(qū)域(如金屬合金中的相分布)。兩種探測器均支持軟件切換,用戶可根據(jù)需求選擇成像模式。
操作控制單元集成15英寸觸控屏,界面直觀顯示真空狀態(tài)、電子束參數(shù)及實(shí)時(shí)圖像。設(shè)備支持外接電腦控制,兼容Windows系統(tǒng),便于數(shù)據(jù)存儲與后期分析。接口方面,預(yù)留USB、HDMI及網(wǎng)口,可連接相機(jī)、打印機(jī)或?qū)嶒?yàn)室信息管理系統(tǒng)(LIMS)。
ZEM20的型號根據(jù)配置差異分為基礎(chǔ)版(ZEM20-B)與專業(yè)版(ZEM20-P)?;A(chǔ)版?zhèn)戎亟虒W(xué)與常規(guī)檢測,標(biāo)配SE探測器;專業(yè)版增加BSE探測器、自動(dòng)聚焦功能及更大的樣品倉(可容納直徑30mm樣品),適合科研級需求。
從結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可見,ZEM20通過優(yōu)化電子光學(xué)路徑、靈活的真空模式及多探測器配置,在緊湊機(jī)身內(nèi)實(shí)現(xiàn)了功能的平衡。其核心組件的選材(如無氧銅線圈、304不銹鋼腔體)與模塊化布局,既保證了成像穩(wěn)定性,也為后續(xù)升級預(yù)留了空間


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