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澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

  • 澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用
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參考價 600000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
600000
≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-10-23 15:46:00瀏覽次數(shù):52評價

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用
澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護(hù)體系,為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

應(yīng)用領(lǐng)域典型樣品推薦模式關(guān)鍵設(shè)置
鋰電正極顆粒NCM 粉末BSE?+?低壓 (10?kV)導(dǎo)電膠、工作距離 ≈?8?mm
金屬粉末316L 粉末SE?+?拼圖 (15?kV)5?×?5 陣列,Z 步進(jìn) 60?µm
生物濾膜聚碳酸酯核孔膜SE?+?低壓 (3?kV)5?nm 金層鍍膜,工作距離 ≈?5?mm
元素分析 (EDS)Cu?Zn 合金BSE?+?EDS (7?15?kV)SDD 探測器,計數(shù)率 30?kcps,能量分辨率 ≤?129?eV
  • 鋰電顆粒:10?kV、50?pA 條件下,BSE 成像可分辨 30?nm 裂紋,低壓模式避免充電。

  • 金屬粉末:利用 5?×?5 拼圖功能,自動 Z 軸移動 60?µm,得到大景深全景圖,孔洞對比度 >?0.3,便于孔隙率統(tǒng)計。

  • 生物濾膜:5?nm 金層抑制充電,3?kV 低壓下孔徑 200?nm 清晰可見,適合細(xì)胞捕獲后計數(shù)。

  • EDS:配備 30?mm2 SDD 探測器,Mn?Kα 能量分辨率 129?eV(計數(shù)率 50?kcps),可實現(xiàn) B?C?N?O 輕元素的定量分析。


結(jié)語
澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護(hù)體系,為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。以上六篇推廣文章從硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作指南、環(huán)境要求到典型應(yīng)用,系統(tǒng)展示了 ZEM20 的技術(shù)優(yōu)勢與實際價值,幫助實驗室快速評估并實現(xiàn)采購與使用。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

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