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目錄:北京儀光科技有限公司>>臺式電鏡&臺階儀&原位分析>>澤攸臺式掃描電鏡>> 澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

  • 澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
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參考價 600000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
600000
≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-10-23 19:14:27瀏覽次數(shù):46評價

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng),擴展了其應(yīng)用范圍。原位實驗附件包括拉伸臺,可在觀察樣品的同時施加拉伸力,實時記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺最高工作溫度可達1200℃,配合高溫樣品座,可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結(jié)等動態(tài)變化。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

選購ZEM20時需要綜合考慮研究需求和預(yù)算限制。基礎(chǔ)配置包括主機、電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和基本探測系統(tǒng),可滿足常規(guī)形貌觀察需求。若經(jīng)常觀察非導(dǎo)電樣品,建議選配低真空模式或減速模式功能,這些功能能有效緩解樣品充電問題。

對于需要進行成分分析的用戶,能譜儀是必要選配。目前主流的硅漂移探測器具有較高計數(shù)率和能量分辨率,適合多數(shù)應(yīng)用場景。若需要分析超輕元素,可考慮配備超薄窗口或無窗探測器,但需要注意維護要求更高。

樣品類型也是重要考慮因素。常規(guī)樣品使用標(biāo)準(zhǔn)樣品座即可,若需要觀察特殊形狀或尺寸的樣品,可選購專用樣品座。進行動態(tài)實驗研究的用戶應(yīng)考慮原位實驗附件,如拉伸臺、加熱臺等。這些附件雖然增加投資,但能極大擴展設(shè)備功能。

售后服務(wù)同樣重要。建議選擇提供完善技術(shù)支持和培訓(xùn)服務(wù)的供應(yīng)商,確保設(shè)備始終處于良好狀態(tài)。定期維護合同能幫助預(yù)防潛在問題,減少意外停機時間。


澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

ZEM20是澤攸科技ZEM系列中的一款,與其他型號如ZEM18、ZEM15C和ZEM Ultra場發(fā)射電鏡形成互補。ZEM20主要定位中端,分辨率4nm,放大倍數(shù)36萬倍;而ZEM Ultra場發(fā)射型號可能分辨率更高。選購時需關(guān)注:分辨率需求(是否高于4nm)、加速電壓范圍(ZEM20為20kV)、樣品倉尺寸(ZEM20為大倉設(shè)計)以及是否需原位附件。預(yù)算方面,ZEM20參考價格約60萬元人民幣,用戶應(yīng)根據(jù)實際應(yīng)用選擇配置,如材料科學(xué)可能需加熱臺,生物樣品可選減速模式。售后服務(wù)方面,澤攸科技提供1年質(zhì)保、現(xiàn)場培訓(xùn)與遠程診斷。澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南







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