深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司

  • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

    半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀概述：配備集成電腦及顯示屏一體機(jī)箱，包含高精度電流測(cè)量模塊、電容測(cè)量模塊、超快脈沖模塊，配合專用數(shù)據(jù)測(cè)量分析軟件，無(wú)需外接其他儀表即可實(shí)現(xiàn)I-V...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/6 10:28:44 對(duì)比

  • 超顯微壓痕硬度計(jì)

    “ELIONIX "系列第五代超顯微壓痕硬度計(jì)，在日本制造的納米壓痕測(cè)試儀具有友好的 GUI，通過(guò)抑制測(cè)量環(huán)境中的干擾實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性。
    型號(hào)： ELIONIX-5 所在地：日本 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 18:04:07 對(duì)比

  • MPI探針臺(tái)

    VEGA系列概述MPI VEGA 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二極管（VCSEL、EEL）和光學(xué)模塊市場(chǎng)的各種測(cè)試和材料處理要求。
    型號(hào)： VEGA系列 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 16:52:48 對(duì)比

  • MPI探針臺(tái)

    MPI AVIOR 系列為光通信市場(chǎng)提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 （TP）、倒裝芯片 （FP） 發(fā)射和裸片/封裝 （DP） 配置，...
    型號(hào)： AVIOR系列 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 16:52:09 對(duì)比

  • MPI探針臺(tái)

    Micro LED（μLED）是顯示行業(yè)的光學(xué)技術(shù)突破。Micro LED顯示器為消費(fèi)/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力，因?yàn)榕c其他發(fā)射設(shè)備相比，它們更亮、更快...
    型號(hào)： GEMINI系列 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 16:44:48 對(duì)比

  • MPI探針臺(tái)

    CAPELLA系列探針臺(tái)支持從晶圓到封裝芯片級(jí)的所有LED產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學(xué)表征。無(wú)論您是需要高性能、高性價(jià)比還是專業(yè)探針系統(tǒng)...
    型號(hào)： CAPELLA系列 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 16:40:22 對(duì)比

  • 激光干涉儀

    用于SENTECH Instruments等離子系統(tǒng)的SENTECH SLI激光干涉儀端點(diǎn)監(jiān)測(cè)器與聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿過(guò)等離子系統(tǒng)的頂部視口，并被...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 14:40:33 對(duì)比

  • 激光橢圓儀

    SE 401adv 通過(guò)映射高達(dá) 200 毫米的液體單元、用于原位測(cè)量的液體單元、攝像機(jī)、自動(dòng)對(duì)焦、模擬軟件和經(jīng)過(guò)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)晶圓，可根據(jù)您的需求進(jìn)行調(diào)整。
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 14:31:47 對(duì)比

  • 光譜橢偏儀

    SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽(yáng)能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡(jiǎn)單，具有高測(cè)量靈敏度、去偏振...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 14:28:12 對(duì)比

  • 激光橢圓儀

    多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長(zhǎng)為 632.8 nm 時(shí)，在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率。可更換晶圓支架...
    型號(hào)： SE 400adv... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 14:18:06 對(duì)比

  • 自動(dòng)光譜反射儀

    SENTECH RM 1000 QC反射儀設(shè)計(jì)用于快速簡(jiǎn)單地測(cè)量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制。該工具涵蓋 20 nm ...
    型號(hào)： SENTECH R... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 14:06:57 對(duì)比

  • 數(shù)字示波器

    InfiniiVision 數(shù)字示波器采用了我們的技術(shù)創(chuàng)新技術(shù)設(shè)計(jì)，能夠提供更快的波形捕獲率，讓設(shè)計(jì)中的偶發(fā)毛刺無(wú)所遁形。 直觀的用戶界面和應(yīng)用軟件，使您在彈指...
    型號(hào)： InfiniiVi... 所在地：國(guó)外 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 13:48:39 對(duì)比

  • 全自動(dòng)薄膜質(zhì)量控制

    SENTECH SENDURO®MEMS 提供配置靈活性，以滿足生產(chǎn)控制和質(zhì)量控制的要求。該工具可以配置反射法和橢圓偏振法中的μ點(diǎn)測(cè)量，以及提供準(zhǔn)確測(cè)...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 11:30:19 對(duì)比

  • 薄膜計(jì)量光譜儀軟件

    SpectraRay/4 是 SENTECH 專有的光譜橢圓偏振儀軟件，包括橢圓、反射和透射數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集、建模、擬合和擴(kuò)展報(bào)告。它支持可變角度、多實(shí)驗(yàn)和組合光...
    型號(hào)： SpectraRa... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 11:16:05 對(duì)比

  • 便攜式示波器

    便攜式示波器某些測(cè)試要求使用更便攜、可堆疊的儀器進(jìn)行專業(yè)級(jí)測(cè)量。 但是，您不能為了外形尺寸而犧牲品質(zhì)。 是德科技的 USB 精簡(jiǎn)便攜系列手持和模塊化示波器可隨時(shí)...
    型號(hào)： USB 系列 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 11:08:57 對(duì)比

  • 薄膜計(jì)量紅外光譜橢圓儀

    SENTECH SENDIRA 專為紅外 （FTIR） 而設(shè)計(jì)。這款緊湊的臺(tái)式儀器包括吹掃橢偏儀光學(xué)元件、計(jì)算機(jī)控制的測(cè)角儀、水平樣品平臺(tái)、自動(dòng)準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡、商用...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 11:08:43 對(duì)比

  • 全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)

    它是一款全自動(dòng)微形狀測(cè)量機(jī)，具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，非常適合測(cè)量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、臺(tái)階和粗糙度。 此外，您可以從多種型號(hào)中進(jìn)行選擇...
    型號(hào)： ET4000A 所在地：國(guó)外 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 10:56:16 對(duì)比

  • 薄膜計(jì)量橢圓光譜儀

    SENTECH SENpro 橢圓偏振光譜儀具有操作簡(jiǎn)單、測(cè)量速度快、不同入射角橢偏振測(cè)量的組合數(shù)據(jù)分析等特點(diǎn)。它的測(cè)量光譜范圍為 370 nm 至 1,050...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 10:50:15 對(duì)比

  • 薄膜計(jì)量橢圓光譜儀

    SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 橢圓偏振法分別測(cè)量高達(dá) 2,500 nm 或 3,500 nm 的近紅外光譜。它提供最寬的光...
    型號(hào)： SENresear... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 10:41:35 對(duì)比

  • 薄膜計(jì)量激光橢圓儀

    SENTECH SE 500adv結(jié)合了橢圓偏振法和反射法，消除了測(cè)量透明薄膜層厚的模糊性。它將可測(cè)量的厚度擴(kuò)展到 25 μm。因此，SE 500adv 擴(kuò)展了...
    型號(hào)： SENTECH S... 所在地：德國(guó) 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2024/9/5 10:28:18 對(duì)比
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