日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 返回列表頁

特點(diǎn)

高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

• HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)

• HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)

• 明場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)

高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

• 元素面分布更迅速及時(shí)

• 低濃度元素檢測(cè)

操作簡(jiǎn)化

• 自動(dòng)圖像對(duì)中功能

從樣品制備到觀察分析實(shí)現(xiàn)無縫連接

• 樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容

配有各種選購件可執(zhí)行各種評(píng)估和分析操作

• 同時(shí)獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。

• 低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至低)

• 高精度放大校準(zhǔn)和測(cè)量*

• 實(shí)時(shí)衍射單元*(同時(shí)觀察暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)

• 采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*，具有自動(dòng)傾斜圖像獲取功能。

• ELV-3000即時(shí)元素面分布系統(tǒng)*(同時(shí)獲取暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像)