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當(dāng)前位置：玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司>>HITACHI日立>>電子顯微鏡>> HF5000日立電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡
產(chǎn)品型號HF5000
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
更新時間：2024-08-08 15:39:13瀏覽次數(shù)：355次
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合 |
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日立電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡
日立電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡
標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動校正功能）
搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機體的性能大幅度提升
觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像
采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺結(jié)構(gòu)以及樣品桿
支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）
采用全新構(gòu)造的機體外殼蓋
配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*
*選項
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ)，進行優(yōu)化，進一步實現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外，還更新了鏡體，電源系統(tǒng)和樣品臺，以支持觀察亞?圖像，并提升了機械和電氣穩(wěn)定性，然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器，以實現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進行EDX元素分析。
由于第二檢測器位于第一檢測器的對面位置，因此，幾乎不會因為樣品傾斜，導(dǎo)致X射線中的信號檢測量發(fā)生變化。所以，即使是結(jié)晶性樣品，也不用顧忌信號量，可按照樣品的方向與位置進行元素分析。
此外，對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細映射等領(lǐng)域也極為有效。
GaAs（110）的原子柱EDX映射
配有標(biāo)配二次電子檢測器，可同時觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實地樣品表面圖像
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