非接觸電阻率測試儀：電氣材料特性的新一代測量工具2025/2/28

非接觸電阻率測試儀是一種先進(jìn)的電氣測量工具，旨在精準(zhǔn)測量材料的電阻率而無需與樣品直接接觸。這種儀器在電子、材料科學(xué)、電氣工程和環(huán)保監(jiān)測等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。隨著科技進(jìn)步和市場需求的增加，應(yīng)用場景正在不斷...

九域半導(dǎo)體科技通過知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)2025/2/8

知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)?是指企業(yè)貫徹《企業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理規(guī)范》國家標(biāo)準(zhǔn)的過程。該標(biāo)準(zhǔn)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局制訂，并經(jīng)由國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)批準(zhǔn)頒布，于2013年3月1日起實(shí)施，標(biāo)準(zhǔn)號(hào)為GB/T...

渦流法少子壽命原理2024/12/7

即少數(shù)載流子壽命。光生電子和空穴從一開始在半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失的時(shí)間稱為壽命。載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子（因?yàn)橹挥猩贁?shù)載流子才能注入到半導(dǎo)體內(nèi)部、并積...

薄膜方塊電阻的測試方法2024/11/30

方塊電阻測試儀在薄膜或薄層半導(dǎo)體材料中的應(yīng)用方塊電阻測試儀是一種用于測量半導(dǎo)體材料電阻率的儀器，通常用于涂層和薄膜半導(dǎo)體材料的電阻率測量。這種儀器能夠測量樣品的電導(dǎo)率和電阻率，以及材料的載流子濃度和遷...

無損方塊電阻測試具有哪些特點(diǎn)？2024/11/23

方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關(guān)，其單位為Siements/sq，后增加...

對(duì)非接觸霍爾遷移率認(rèn)識(shí)2024/11/16

?非接觸霍爾遷移率?是指通過非接觸霍爾效應(yīng)測量技術(shù)獲得的遷移率值?；魻栠w移率（Hallmobility）是Hall系數(shù)RH與電導(dǎo)率σ的乘積，即μH=│RH│σ?12。這種遷移率與傳統(tǒng)的范德堡霍爾測試法...

渦流法電阻率方阻CE認(rèn)證重要性2024/11/15

CE認(rèn)證，即只限于產(chǎn)品不危及人類、動(dòng)物和貨品的安全方面的基本安全要求，而不是一般質(zhì)量要求，協(xié)調(diào)指令只規(guī)定主要要求，一般指令要求是標(biāo)準(zhǔn)的任務(wù)。因此準(zhǔn)確的含義是：CE標(biāo)志是安全合格標(biāo)志而非質(zhì)量合格標(biāo)志。是...

非接觸電阻率測試儀有哪些特點(diǎn)值得我們選擇？2024/11/11

非接觸電阻率測試儀主要基于電磁感應(yīng)原理來測量材料的電阻率。其基本原理是通過在被測材料附近產(chǎn)生一個(gè)交變磁場，該磁場會(huì)在材料中感應(yīng)出渦流。渦流的大小與材料的電阻率、磁導(dǎo)率以及磁場的頻率等因素有關(guān)。通過測量...

碳化硅的電阻率測試2024/11/9

碳化硅半導(dǎo)體材料屬Ⅳ族化合物半導(dǎo)體。為共價(jià)鍵晶體，有閃鋅礦型和鉛鋅礦型兩種結(jié)晶形式。?碳化硅的電阻率范圍?通常在0.005Ω·cm到200Ω·cm之間。?測量方法?非接觸渦流法?是一種常用的測量導(dǎo)電碳...

少子壽命2024/10/17

少子壽命的定義和重要性?12?少子壽命?是指?光生電子和空穴從一開始在?半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失的時(shí)間。它是半導(dǎo)體材料和器件的一個(gè)重要參數(shù)，直接影響器件的性能。少子壽命越長，器件的性能越好。影響少子壽命的...

非接觸式霍爾遷移率2024/10/17

??霍爾遷移率（Hallmobility）是指?Hall系數(shù)RH與電導(dǎo)率?σ的乘積，即│RH│σ，具有遷移率的量綱，故特別稱為霍爾遷移率。?表示為μH=│RH│σ。?12霍爾遷移率μH實(shí)際上不一定等于...

非接觸式方阻測試2024/10/17

方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關(guān)，其單位為Siements/sq，后增加...

渦流法電阻率測試2024/10/17

渦流法電阻率是一種非接觸式的測量方法，主要用于測量材料的電阻率而不會(huì)損傷被測物體的表面。?這種方法基于電磁感應(yīng)原理，通過檢測材料中的渦流來評(píng)估其電阻率。渦流法電阻率測量技術(shù)的原理是：當(dāng)交變電流通過導(dǎo)體...