九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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  • 紅外激光少子壽命測(cè)試儀

    紅外激光少子壽命 指半導(dǎo)體中非平衡少數(shù)載流子在紅外激光激發(fā)下從產(chǎn)生到復(fù)合的平均存活時(shí)間。 ?測(cè)試方法紅外脈沖激光 激發(fā)半導(dǎo)體材料，通過(guò) 微波光電導(dǎo)衰減法 （ μ...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/8/9 14:46:50 對(duì)比
    非接觸少子壽命紅外光電半導(dǎo)體硅片
  • 非接觸金屬薄膜方阻測(cè)試

    金屬膜電阻器是膜式電阻器(Film Resistors)中的一種。它是采用高溫真空鍍膜技術(shù)將鎳鉻或類(lèi)似的合金緊密附在瓷棒表面形成皮膜，經(jīng)過(guò)切割調(diào)試阻值，以達(dá)到最...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/7/16 15:13:53 對(duì)比
    方阻金屬薄膜非接觸渦流法硅片碳化硅
  • 金屬薄膜方阻測(cè)試儀

    金屬薄膜方阻測(cè)試儀：金屬薄膜方阻，方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測(cè)量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:03:44 對(duì)比
    技術(shù)薄膜方阻渦流法非接觸晶圓缺陷
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