上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?
初級(jí)會(huì)員 | 第8年

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  • 硅片表面形貌測(cè)量

    NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth,bottom...

    型號(hào)： VIT系列 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/24 16:24:24 對(duì)比
    表面輪廓儀硅片表面形貌儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
  • Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

    Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)布魯克專門設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/24 11:46:49 對(duì)比
    納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測(cè)試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)
  • 紅外干涉測(cè)量設(shè)備

    紅外干涉測(cè)量設(shè)備適用于可讓紅外線通過(guò)的材料硅、藍(lán)寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...

    型號(hào)： FSM 413 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/23 11:57:22 對(duì)比
    紅外干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
  • 三維表面測(cè)量系統(tǒng)

    三維表面測(cè)量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案，超過(guò)300度的測(cè)量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問(wèn)題...

    型號(hào)： NP Flex 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/22 18:19:37 對(duì)比
    表面輪廓儀臺(tái)式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
  • 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

    納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。基于海思創(chuàng)幾十年的技術(shù)，他為納米力學(xué)表征帶...

    型號(hào)： TI 980 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/22 13:34:06 對(duì)比
    納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測(cè)試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)
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