九域半導體科技(蘇州)有限公司
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渦流法電阻率測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質生產(chǎn)商

所  在  地蘇州市

更新時間:2025-01-16 13:16:51瀏覽次數(shù):494次

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渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸:2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品;遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);方塊電阻測量范圍:100-3000(ohm/sq);載流子面密度測量范圍:1E11-1E14(cm-2);

渦流法電阻率測試儀特點:

樣品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品;

遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);

方塊電阻測量范圍:100-3000(ohm/sq);

載流子面密度測量范圍:1E11-1E14(cm-2);

電磁鐵磁場強度:1.0T

探頭線圈直徑:15mm

專注于非接觸式半導體計量分析技術的開發(fā)和生產(chǎn),攻克被國外卡脖子技術。產(chǎn)品廣泛應用于半導體、光伏、科研以及平板材料測試領域。借助公司*計量分析測試技術,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。

晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀。

電阻有一個特性,即任意大小的正方形測量值都是一樣的,不管邊長是1米還是0.1米,它們的方阻都是一樣,這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關,表征膜層致密性,同時表征對熱紅外光譜的透過能力,方塊電阻測量數(shù)值愈大,則隔離熱紅外性能越差,方塊電阻測量數(shù)值愈小則隔離熱紅外性能越好,對于建筑行業(yè)來講低輻射玻璃的熱紅外性能測量的快速測量就必須選用方塊電阻測量儀,測量值愈小則建筑材料就愈節(jié)能,在建筑材料行業(yè)具有很大的作用。

渦流法電阻率測試儀技術參數(shù):

參數(shù)方阻(電阻率)(厚度 約125μm)

8- 2500Ω/sq(0.1-30 Ω?cm)可擴展到100Ω?cm
探頭性能動態(tài)重復性靜態(tài)重復性示值誤差
測試條件:采樣率 250SPS(4ms),60個點/每次
008-160Ω/sq(0.1- 2 Ω?cm)<0.3%<0.05%≤±3%
160-800Ω/sq(2 - 10 Ω?cm)<0.5%<0.1%≤±3%
800-2500Ω/sq(10 - 30 Ω?cm)<0.5 %<0.2%≤±3%
外形尺寸上探頭:Ф20×145mm下探頭:Ф20×100mm控制盒:173×130×55mm
信號采集采樣率:≤1ms,采集數(shù)據(jù)>300點
數(shù)據(jù)接口:RS232,RS485 CAN TCP/IP
傳輸協(xié)議:Modbus Rtu/Modbus Tcp、用戶自定義 SOCKET 協(xié)議等
自動溫度補償系統(tǒng)
原始信號可公開
參數(shù)PN
外形尺寸Ф25*99mm
電阻率范圍樣品電阻率范圍:0.02-3000Ω?cm
信號采集采樣率:60sps-1000sps(1ms-16ms/點),默認4ms
采樣數(shù)據(jù):**200個點,默認100點
光源特性理論壽命> 10年
頻率可調:1KHz - 100KHz,可避免機臺同頻干擾

PN測試原理

用能量大于半導體材料禁帶寬度的單色光照射在半導體材料表面,在其內部產(chǎn)生電子-空穴對,受濃度梯度驅動擴散至半導

體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場分離,形成光生電壓,即表面光電壓。

渦流法電阻率測試儀

N型和P型半導體材料在光誘導下,表面勢壘高度的變化過程

與進口儀器相關性及重復性對比(來源于客戶測試)
電阻率探頭——相關性系數(shù)R2=0.9996

渦流法電阻率測試儀

電阻率探頭——穩(wěn)定性


樣片1樣片2

進口***九域進口***九域
No.AveMaxMinAveMaxMinAveMaxMinAveMaxMin
10.3760.3850.3120.3750.3830.3180.640.6480.5420.6360.6430.547
20.3770.3860.3110.3750.3830.3170.640.6490.5410.6360.6430.546
30.3760.3860.3110.3750.3840.3180.6410.6470.5410.6340.6420.546
40.3780.3860.3140.3760.3840.3190.6420.6420.5420.6350.6460.542
50.3770.3850.3140.3750.3830.3160.6390.6470.5450.6350.6440.545
60.3760.3820.3150.3750.3830.3180.640.6490.5420.6360.6450.545
70.3780.3840.3110.3750.3830.3170.6420.6480.5430.6360.6440.545
80.3780.3840.3110.3750.3840.3160.6410.6480.5410.6350.6440.544
90.3770.3820.3130.3750.3840.3180.640.6470.5420.6350.6430.546
100.3760.3830.3130.3760.3840.3180.6410.6480.5450.6350.6450.544
Rsd0.23%0.41%0.48%0.11%0.14%0.31%0.15%0.31%0.28%0.11%0.19%0.26%
%


0.00%0.26%1.60%


-0.94%-0.46%-0.18%

樣片3樣片4

進口***九域進口***九域
No.AveMaxMinAveMaxMinAveMaxMinAveMaxMin
11.2511.2850.9721.261.2710.9652.0052.0111.6891.9922.0021.666
21.251.2780.9711.2571.2720.9682.0062.0111.6871.9922.0011.654
31.2511.2770.9691.2561.2710.9672.0012.0081.6981.9932.0031.653
41.2481.2870.9661.2581.2680.9682.0022.0151.6881.9912.0051.655
51.2471.2830.9641.2581.2740.9622.0062.0181.6871.9922.0021.665
61.2521.2810.9631.2581.2740.9622.0042.0191.6851.9972.0011.653
71.251.2820.9621.2591.2710.9652.0082.0211.6971.9922.0091.653
81.2521.2820.9641.2571.2720.962.0082.0351.6831.9982.011.658
91.2521.2840.9681.2561.2740.9662.0092.0211.6821.9962.011.655
101.2531.2770.971.2551.2710.9652.0042.0221.6851.9922.0081.659
Rsd0.15%0.27%0.37%0.12%0.15%0.28%0.13%0.38%0.32%0.13%0.19%0.30%
%


0.16%-0.47%-0.52%


-0.60%-0.69%-1.54%

光伏探頭——穩(wěn)定性(該產(chǎn)品在光伏領域已成功上市,穩(wěn)定測試超過20億片)

高值樣品九域測試結果

渦流法電阻率測試儀


出廠檢測報告

渦流法電阻率測試儀



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